Halbleiterentwicklung und -fertigung

Helfen Ihnen, Ihre neuen Entwicklungen schneller auf den Markt zu bringen

Neue Halbleitermaterialien, wie z. B. SiC und GaN, bringen häufig ganz spezielle Probleme bei der Entwicklung mit sich.

Die DC-Charakterisierung von Halbleitern erfordert umfangreiche IV-, CV- und schnelle gepulste Messungen.
Das Testen von Hochleistungs-Halbleiterkomponenten verstärkt den Bedarf an höheren Spannungen und Leistungspegeln, kürzeren Schaltzeiten, höheren Spitzenströmen und kleineren Leckströmen.
In Produktionsumgebungen für Halbleiter sind Automatisierung, Nadelmessplatz-Integration, Geschwindigkeit und Durchsatz für die Die-Sortierung sowie Wafer-Akzeptanz- und Zuverlässigkeitstests unabdingbar.

Digitale Hochgeschwindigkeitsschnittstellen erfordern kürzere Prüfzyklen zur Validierung der physischen Schicht. Beschleunigtes Debugging, Protokolldekodierung und die Erkennung von Jitter und Rauschen aus Quellen, wie z. B. Übersprechen, sind wichtige Anforderungen für Entwickler.

So viele elektrische Validierungstests bei so wenig verfügbarer Zeit!

Ausgewählte Inhalte

Empfohlene Geräte

Keithley SMU-Geräte: Sourcing und gleichzeitiges Messen von Strom oder Spannung mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit.
Parameter-Analysatoren von Keithley: Durchführung von IV- und CV-Messungs-Sweeps, extrem schnellen Impuls- und transienten IV-Messungen.
Oszilloskope: Weltweit vertrauen 8 von 10 Ingenieuren bei der Fehlersuche und bei Tests zukünftiger Entwicklungen auf unsere Oszilloskope.