400G PAM4-Tests
400G PAM4-Tests
Herausforderungen bei 400G-Messungen meistern
Das weltweit rasante Wachstum im Bereich des Cloud-Computing führt zu einer enormen Nachfrage bei der Infrastruktur für Hochleistungsrechenzentren. Um mit dieser Nachfrage Schritt zu halten, setzen Entwickler verstärkt auf den Einsatz von 400G-Technologien, die kleinere, schnellere Lösungen zu geringen Kosten pro Bit ermöglichen.
Verschiedene Kerntechnologien ermöglichen 400G, zum Beispiel der Einsatz von Modulationen höherer Ordnung und höhere Datenraten bis zu 56 GBaud. Dieses neue Modulationsschema bietet die vierstufige Pulsamplitudenmodulation (PAM4). Hierbei werden zwei Bit pro Symbol übertragen, die Datenrate wird im Vergleich zur herkömmlichen NRZ-Methode also verdoppelt.
Da PAM4-Signale ein niedrigeres Signal-Rausch-Verhältnis und nur ein Drittel der Amplitude des entsprechenden NRZ-Signals aufweisen, sind für die erfolgreiche Validierung anspruchsvollere Werkzeuge und Funktionen erforderlich.
Erfahren Sie, wie es geht:
Neuigkeiten
- Der branchenweit erste optische 56-GBd-Tastkopf ( DPO7OE2 ) für erweiterte Debugging- und Fehlerbehebungsaufgaben für PAM4-Tests mit einem Echtzeitoszilloskop
- Die neuen optischen Module 80C20 und 80C21 bieten höchste Empfindlichkeit und geringstes Rauschen für eine PAM4-Testlösung mit einem Abtastoszilloskop
400G-Produktentwicklung beschleunigen
Bei der Entwicklung von 400G-Produkten gibt es viele Herausforderungen. PAM4-Signale können nur mit anspruchsvolleren Werkzeugen und Funktionen erfolgreich evaluiert werden. Mit einem Echtzeitoszilloskop DPO70000 bieten die optischen Tastköpfe der DPO7OE-Serie herausragende Features, Trigger und Debug-Fähigkeiten, um Fehlerbehebung und Messungen für PAM4-Signale bis zu 56 GBaud effizient durchzuführen.
Mit den Echtzeit-Lösungen von Tektronix als Ergänzung zu den rauscharmen Sampling-Oszilloskopen können Sie Ihre technologischen Fortschritte effizient validieren und die 400G-Technologie schnell debuggen und validieren.
Mit dem Übergang von NRZ zu PAM4 ist das Testen optischer Signale komplexer geworden.
Schneller validieren und Gewinne maximieren
Eine der größten Herausforderungen besteht darin, die geforderten Spezifikationen zu erfüllen und gleichzeitig die Testkosten pro Gerät so gering wie möglich zu halten. Im Vergleich mit NRZ-Signalen ist für PAM4-Signale das Zehnfache an Tests erforderlich. Deshalb sind hier Lösungen gefragt, die schnell Messungen für die optimale Abstimmung liefern und das geringste Rauschen bieten, damit der Produktionsertrag maximiert werden kann.
Die Abtastlösungen von Tektronix umfassen das DSA8300 und das optische Modul 80C20/21 und ermöglichen damit die größte Bandbreite, die höchste Empfindlichkeit und die kürzeste Testzeit beim Testen bis zu 56 GBaud. Mit dieser Lösung finden Sie das optimale Gleichgewicht zwischen Performance und Prüfkosten.
Die TDECQ-Messung zeigt die Testkomplexität eines PAM4-Signals.
Ausgewählte Inhalte
Optische Bandbreitenanforderungen für NRZ- und PAM4-Signale
White Paper
Bis vor Kurzem gab es bei optischen und elektrischen Bandbreiten ähnliche Ergebnisse. Mit den neuesten Änderungen der IEEE-Spezifikation ist dies jedoch nicht mehr der Fall. In diesem Dokument werden diese Begriffe und ihre Beziehung zueinander erläutert. Es enthält Grundlagen für ein besseres Verständnis und für die zuverlässige Berechnung optischer und elektrischer Bandbreiten für einen optischen Kanal.
PAM4 in der Netzwerktechnologie mit 400 Gbit/s, 200 Gbit/s, 100 Gbit/s, 50 Gbit/s
Poster
Unser Poster zum Herunterladen bietet Ihnen einen vollständigen, aktuellen Überblick über PAM4 einschließlich optischer Standards und Messungen sowie elektrischer Standards und Messungen.
Optisches Messen mit einem Echtzeit-Oszilloskop
Webinar
Bereiten Sie sich auf die neuen Herausforderungen bei optischen Netzwerken vor. In diesem Webinar sprechen Experten über kritische Designprobleme, die mit der Integration von optischen PAM4-Funktionen in optische Netzwerkkomponenten oder -systeme verbunden sind, und erläutern, wie Sie diese Herausforderungen durch den Einsatz von Echtzeit-Oszilloskopen meistern können.
PAM4-Software für Echtzeit-Oszilloskope
PAM4
Optimieren Sie PAM4-Analyse und -Debugging mit allen erforderlichen Funktionen.
PAM4 Analyse & Debugging
PAM4 400G TX Elektrische Konformität
- Umfassendes Set mit elektrischen und optischen Messungen, die IEEE- und OIF-CEI-Standards abdecken, sowie Jitter- und Augenmessungen für PAM4
- Integrierte Einzelanwendung mit automatischer Konfiguration verschiedener Signalparameter zur einfachen Verwendung
- Erkennen von und Navigation zu einzelnen Symbolfehlern mit Anmerkungen
- Umfassende Darstellungen und Berichte zum Visualisieren und Analysieren der Messergebnisse
Echtzeit-Oszilloskop DPO70000SX
DPO70000SX
Vereinfachen Sie den komplexen 400G-Prüfaufbau mit der genauesten Erfassung des Signalverhaltens im Hochgeschwindigkeitsbereich, um Ihre Designs der nächsten Generation zu überprüfen, zu validieren und zu charakterisieren.
- Modelle mit 23, 33, 50 und 70 GHz Bandbreite erhältlich
- Einfache, umfangreiche PAM4-Analyse – ohne externe Taktrückgewinnung
- Leistungsstarke Debuggingwerkzeuge zum schnellen Erkennen/Beheben von Designproblemen
- Debugging komplexer Link-Training-Sequenzen
- Charakterisierung von PAM4- und NRZ-Signalen
- Sowohl optische als auch elektrische Messungen verfügbar
NEU! Optischer Tastkopf für Echtzeit-Oszilloskope
DPO7OE-Serie
Einfache Fehlerbehebung mit leistungsstarken Debugging-Funktionen: Software-Taktrückgewinnung für PAM4 und NRZ, Triggerung, Fehlererkennung und zeitkorrelierte oder fortlaufende Signalerfassung.
- Zur Verwendung mit DPO/MSO70000C/DX/SX-Echtzeit-Oszilloskopen
- Wellenlängenempfindlichkeit von 1200 nm bis 1650 nm
- Hohe Gleichstrombandbreite von bis zu 59 GHz
- Optisches Rauschen 10 µW (ATI)
- NRZ (PAM2)- und PAM4-Referenzempfänger 56 GBaud
- Einsatz als herkömmlicher O/E mit flachem Antwortfilter für die allgemeine Lasersignalerfassung bis zu 59 GHz
PAM4-Software für Abtastoszilloskope
PAM4
Umfassende 400G PAM4-Messungen mit Unterstützung für neue OIF-CEI- und IEEE-Standards.
Jitter-, Rauschen- und BER-Analyse von PAM4 und PAM2 NRZ im Hochgeschwindigkeitsbereich
PAM4 400G TX - Software für optische Konformität
(IEEE802.3bs und IEEE802.3cd)
- Die Analyse von PAM4-Signalen mit umfassender Jitter-, Rauschen- und BER-Analyse für jedes individuelle PAM-Auge für Datenraten von
- Trennung von Jitter und Rauschen ermöglicht eine hochpräzise Extrapolation von BER und Augenkontur
- Die Entzerrung des Signals mit CTLE/FFE/DFE öffnet das Augendiagramm für Messungen – sehen Sie das Signal so, wie es vom Empfängerkomparator gesehen wird
- Optische Sendermessungen für die Spezifikationen von IEEE 802.3bs und IEEE 802.3cd
- Validierung der Standards 50GBASE-FR/LR, 100GBASE-DR, 200GBASE-DR4/LR4/FR4 und 400GBASE-LR8/FR8/DR4
Sampling-Oszilloskop DSA8300
DSA8300
Gut geeignet für die ausführliche Charakterisierung von PAM4- und Transmitter Distortion Eye Closure Quaternary (TDECQ)-basierten Messungen. Unterstützt elektrische und optische Signale bei Tests in der Forschung und Entwicklung sowie in der Produktion.
- Niedriger Zeitbasis-Jitter von
- Optische Bandbreiten bis >80 GHz
- Elektrische Bandbreiten bis >70 GHz
- Über 120 automatisierte Messungen für NRZ, RZ und PAM4
- Komplexe Jitter/Rauschen/BER/SER-Analyse (80SJNB), Unterstützung der komplexen TDECQ-, SNDR-Messungen
NEU! Optische Module für Sampling-Oszilloskope
NEU! 80C20 & 80C21
Nutzen Sie die branchenweit höchste Maskentest-Empfindlichkeit und niedrigstes optisches Rauschen, um bei aktuellen 400G-Designs, die in Produktion gehen, die Produktionskapazität zu steigern und Gewinne zu verbessern.
- Zur Verwendung mit dem Sampling-Oszilloskop DSA8300
- Wellenlängenbereich von 1200 nm bis 1650 nm
- Ungefilterte optische Bandbreite 53 GHz
- Typische Maskentest-Empfindlichkeit -10 dBm
- Effektivwert für optisches Rauschen (typisch bei 1310 nm) beträgt 9 µw (@37 GHz)
Sie stehen vor Herausforderungen mit anderen leitungsgebundenen Kommunikationsanwendungen?
Bibliothek
| Title |
|---|
| PAM4 Signaling in High Speed Serial Technology: Test, Analysis, and Debug Learn valuable information on testing PAM4 technology and approaches for validating PAM4 signals. This application note describes:
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| Analyzing 26 to 53 GBd PAM4 Optical and Electrical Signals The need to deliver data rates in excess of 50 Gb/s has created great interest in bringing next generation PAM4 components and systems to market. This paper presents techniques for analyzing 28 GBaud and 53 GBaud optical and electrical PAM4 signals for compliance and debug testing of both components and systems. |
| PAM4 in 400G/200G/100G/50G Networking Technology Poster Download our poster and receive a complete, up-to-date poster providing an overview of PAM4, including both optical standards and measurements and electrical standards and measurements. |
| Optical Bandwidth Requirements for NRZ and PAM4 Signaling Until recently, both optical and electrical bandwidth produced similar results but this is no longer the case with the recent IEEE spec change. This paper clarifies these terms, mathematically shows how they are related, and provides the basis to understand and confidently calculate optical and electrical bandwidth for an optical channel. |
| Titel | |
|---|---|
| Understanding Differences between PCI Express 4.0/5.0 and IEEE High Speed Electrical Specifications | Our Tektronix domain experts, Dan Froelich and Pavel Zivny, contrast the methodologies of the PCI Express 4.0/5.0 and IEEE 26 GBd NRZ/PAM4 electrical specifications and engage in a lively discussion of the pros/cons of the approaches taken by each. |
| 400G Networking and 28GBd/56GBd Testing. Are you Ready? | This webinar covers new technologies and techniques for 100G/400G optical transmitter (TX) testing that will help you accelerate your product development and maximize your manufacturing test efforts. |
| Practical 400G PAM4 Test Methods - Optical and Electrical Measurement | The accelerated development of 400G Ethernet technology is driving new requirements through the test community as it relates to measuring PAM4 signals for optical and electrical systems. This presentation will review both of these two very different technology fronts and discuss practical elements of physical layer PAM4 testing ranging from 50mm based CEI-XSR specs to 10Km 400GBASE-LR8. |
