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400G PAM4-Tests

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400G PAM4-Tests

 

Herausforderungen bei 400G-Messungen meistern

Das weltweit rasante Wachstum im Bereich des Cloud-Computing führt zu einer enormen Nachfrage bei der Infrastruktur für Hochleistungsrechenzentren. Um mit dieser Nachfrage Schritt zu halten, setzen Entwickler verstärkt auf den Einsatz von 400G-Technologien, die kleinere, schnellere Lösungen zu geringen Kosten pro Bit ermöglichen.

Verschiedene Kerntechnologien ermöglichen 400G, zum Beispiel der Einsatz von Modulationen höherer Ordnung und höhere Datenraten bis zu 56 GBaud. Dieses neue Modulationsschema bietet die vierstufige Pulsamplitudenmodulation (PAM4). Hierbei werden zwei Bit pro Symbol übertragen, die Datenrate wird im Vergleich zur herkömmlichen NRZ-Methode also verdoppelt.

Da PAM4-Signale ein niedrigeres Signal-Rausch-Verhältnis und nur ein Drittel der Amplitude des entsprechenden NRZ-Signals aufweisen, sind für die erfolgreiche Validierung anspruchsvollere Werkzeuge und Funktionen erforderlich.

400G-Produktentwicklung beschleunigen

Bei der Entwicklung von 400G-Produkten gibt es viele Herausforderungen. PAM4-Signale können nur mit anspruchsvolleren Werkzeugen und Funktionen erfolgreich evaluiert werden. Mit einem Echtzeitoszilloskop DPO70000 bieten die optischen Tastköpfe der DPO7OE-Serie herausragende Features, Trigger und Debug-Fähigkeiten, um Fehlerbehebung und Messungen für PAM4-Signale bis zu 56 GBaud effizient durchzuführen.

Mit den Echtzeit-Lösungen von Tektronix als Ergänzung zu den rauscharmen Sampling-Oszilloskopen können Sie Ihre technologischen Fortschritte effizient validieren und die 400G-Technologie schnell debuggen und validieren.

NRZ-vs-PAM4

Mit dem Übergang von NRZ zu PAM4 ist das Testen optischer Signale komplexer geworden.

Schneller validieren und Gewinne maximieren

Eine der größten Herausforderungen besteht darin, die geforderten Spezifikationen zu erfüllen und gleichzeitig die Testkosten pro Gerät so gering wie möglich zu halten. Im Vergleich mit NRZ-Signalen ist für PAM4-Signale das Zehnfache an Tests erforderlich. Deshalb sind hier Lösungen gefragt, die schnell Messungen für die optimale Abstimmung liefern und das geringste Rauschen bieten, damit der Produktionsertrag maximiert werden kann.

Die Abtastlösungen von Tektronix umfassen das DSA8300 und das optische Modul 80C20/21 und ermöglichen damit die größte Bandbreite, die höchste Empfindlichkeit und die kürzeste Testzeit beim Testen bis zu 56 GBaud. Mit dieser Lösung finden Sie das optimale Gleichgewicht zwischen Performance und Prüfkosten.

TDECQ_plot_sampling_scope

Die TDECQ-Messung zeigt die Testkomplexität eines PAM4-Signals.

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