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Leitungsgebundene Kommunikation

Beschleunigen Sie die PCIe-, SAS-, SATA-Compliance-Tests mit einer einzigen Testlösung, einschließlich Automatisierungs- und Fehlersuchfunktionen. Beschleunigen Sie die Entwicklung Ihrer 400G-Produkte mit PAM4-Testmethoden, um Ihre Technologiefortschritte effizient zu validieren. Erzielen Sie schnellere Konformität mit Ihren Geräten vom Typ C.

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400G PAM4-Tests

  • 400G-Produktentwicklung beschleunigen
  • Schneller validieren und Gewinne maximieren
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Kohärent-optisch

  • Kein Trial-and-Error mehr
  • Automatisierung zur Zeitreduktion der Kalibrierung und akkuraten Messungen
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PCIe, SAS, SATA
Test und Fehlersuche

  • Automatische Kalibrierung
  • Schließen der Schleife beim Loopback-Debugging
  • Herausragende Signalintegrität und Fehlersuche
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Verbraucherstandards über Typ C

  • Schnelleres Erreichen von Konformität für USB, DisplayPort und HDMI der nächsten Generation
  • Zuverlässigkeit bei Gerätegrenzwerten
  • Teure Überdimensionierungen vermeiden

Weitere Anwendungen in der leitungsgebundenen Kommunikation:

Trends in der leitungsgebundenen Kommunikation

Vernetzte Geräte und die Art der Daten beeinflussen die Weise, wie wir Informationen speichern, übertragen und auf sie zugreifen. Erfahren Sie mehr über die umfassenden Trends, die die Branche der Rechenzentren und der leitungsgebundenen Kommunikation beeinflussen.

„Diese Daten könnten interessant für Sie sein. Daher wird es vermutlich auch kleinere Rechenzentren geben, die näher am Point-of-Service liegen“.

Sarah Boen, Tektronix

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Title
PCI Express Gen 5 Reference Clock Webinar
This webinar presents an overview of reference clock jitter requirements as they have evolved and offers techniques for making these low femtosecond measurements using a real time oscilloscope. 
PCI Express Gen 5 Update Webinar
Cloud-based computing power, storage capacity, and network bandwidth have led to the development of the PCI Express 5.0 specification for 32.0 GT/s. This webinar starts with an overview of 5.0 …
Addressing PCIe Gen1-5 Test and Debug Challenges with Confidence
Learn how to address the test and measurement challenges posed by PCIE Gen1-5 for both base silicon testing and CEM compliance testing. Gain insights and solutions for automation, validation, and …
Solving 400G Data Center Interconnect Measurement Challenges
This webinar will equip you to address the challenges posed by the forthcoming interoperability standards. OIF standards for interoperability of 400G coherent links for Data Center Interconnects (DCI) …