Kontaktaufnahme
Live-Chat mit Tektronix-Vertretern. Verfügbar von 06:00 - 16:30 Uhr PST.
Anrufen
Kontaktieren Sie uns telefonisch unter 1-800-833-9200
Verfügbar von 9:00 bis 17:00 Uhr (CET) Geschäftstage
Download
Laden Sie Handbücher, Datenblätter, Software und vieles mehr herunter:
Feedback
USB
Die USB-TX- und USB-RX-Softwarelösungen von Tektronix entsprechen den Anforderungen an die elektrische Prüfung, Konformität, Charakterisierung und Fehlerbehebung, die von Ingenieuren gestellt werden, die an der Entwicklung von auf USB 3.1 Typ C, USB 3.1 und USB 2.0 basierenden Systemen arbeiten, und erfüllen die USB-IF-Prüfstandards. Eine Lösung für elektrisch-parametrische Messungen auf USB-PD-Basis und Protokollmessungen zur Konformitätsprüfung ist ebenfalls erhältlich.
Automatische Messlösung basierend auf USB 3.1 Typ C
- Ermitteln Sie mit der Kombination aus voller SigTest-Unterstützung und DPOJET im Handumdrehen die Ursache von Problemen beim Testen von Designs vom Typ C auf Basis von SuperSpeed USB 3.1. Datenblatt USB 3.1-Software »
Sender- und Empfängertests mit Oszilloskopen und BERTs von Tektronix
- BERTScope-Geräte der BSX-Serie unterstützen Gen1 mit 5 Gbit/s sowie Gen2 mit 10 Gbit/s und bieten einen integrierten DPP sowie eine protokollsensitive Architektur.
- Oszilloskope der Serien MSO/DPO70000 DX erlauben Protokollanalysen sowie elektrische Prüfungen mit seriellen Bitmustertriggern.
- Oszilloskope der DPO70000SX-Serie bieten das branchenweit niedrigste Rauschen für genaueste Charakterisierung und Grenzwertanalyse.
Erfahren Sie mehr über unsere Lösungen für auf USB 3.1 Typ C, USB 3.2 und USB 2.0 basierte Systeme.
Ausgewählte Inhalte
Alles, was Sie über USB 3.1 wissen müssen – Referenzhandbuch
Finden Sie wichtige USB-Spezifikationen, ohne sich durch hunderte von Seiten kämpfen zu müssen. Dieses Handbuch enthält wichtige Parameter für die elektrischen Tests, Referenzabbildungen für Konformitäts-Testsignale, Loopbacksequenzen für Gen1 und Gen2, Tipps zu Schwierigkeiten bei TX- und RX-Tests und -Messungen und vieles mehr.
USB 3.1 Receiver Compliance Testing (Konformitätsprüfungen bei USB 3.1-Empfängern)
In diesem Anwendungshinweis werden alle Aspekte von USB 3.1-Empfängertests beschrieben, darunter, Augenkalibrierung und Jitter-Toleranztests unter Last mit gemessenen Gerätegrenzwerten.
Simplify your USB Type-C Design Validation - From Complexity to Confidence. (Vereinfachen Sie die Validierung Ihres USB Type C-Designs - Zuverlässigkeit statt Komplexität)
Umfassende Werkzeuge für die Fehlerbereinigung sind unerlässlich, wenn Sie sich darauf verlassen wollen, dass Ihr Produkt Konformitätstests besteht und zertifiziert wird. Dieses ausführliche Webinar hilft Ihnen, Ihre Validierungsaufgaben zu vereinfachen - für mehr Zuverlässigkeit statt Komplexität.
Bibliothek
| Title |
|---|
|
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets …
|
|
USB 3.0 Physical Layer Measurements
|
|
High Speed Interface Standards
This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical …
|
|
Advanced Serdes Debug with a BERT
Learn simple strategies to pinpoint bit errors to the exact bit position and timing with powerful Error Location Analysis and a BERT.
|
|
USB 2.0 Compliance Solution
This fact sheet details the recommended equipment to meet the USB 2.0 compliance testing requirements.
|
|
USB 3.1 What you need to know - Reference Guide
Quickly and easily reference important USB specifications without having to comb through hundreds of pages. This guide includes important Electrical Test Parameters, reference pictures for Compliance …
|
|
USB 3.1 Receiver Compliance Testing
In this application note, all aspects of USB 3.1 receiver testing are covered, including stressed eye calibration and jitter tolerance testing with measured device margin.
|
|
Understanding and Performing USB 2.0 Physical Layer Testing
This application note gives an overview of USB 2.0 physical layer testing includingEletrical tests such as signal quality, in-rush current check, drop and droop testsSpecific information on testing …
|
|
Debugging Serial Buses in Embedded System Designs
Find out how the protocol trigger, decode and search capabilities of the popular MSO and DPO Series oscilloscopes solve serial bus integration and debug challenges of many buses such as I2C, SPI , USB …
|
|
Simplifying Validation and Debug of USB 3.1 Designs
This application note will explain the evolution of the Universal Serial Bus (USB) standard and testing approaches that have been developed to accommodate the increasing speed and complexity of this …
|
| Title |
|---|
|
Thunderbolt Compliance Test Setup Webinar
View our webinar, Choosing the Best Test Setup for Thunderbolt™️ Compliance Testing, and learn which test setup is best suited for your Thunderbolt 3 and Thunderbolt 4 design.
|
|
USB4 Webinar
View our USB4 Compliance and Characterization Test webinar to learn how you can address the measurement challenges associated with the new USB4 standard.
|
|
Testing USB 31
With computer peripheral devices demanding more bandwidth; the industry is making its move to faster serial I/O. USB3.1 brings a staggering 10Gb/sec to computing peripherals. View this short webinar …
|
|
Simplify your USB TypeC Design Validation From Complexity to Confidence
Comprehensive tools for debugging failures are key to building confidence that your product will pass compliance and achieve certification. This in-depth webinar will help simplify your validation …
|
|
Electrical Validation of the Type-C Interface
The introduction of the Type-C interface, and its implementation across multiple high-demand serial standards, has created new challenges for developers. These include new compliance channel …
|
| Title |
|---|
|
USB 3.1 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the SuperSpeed channels of a USB 3.1 cable and mated cable assembly including Type-C to Type-C and Type-C to legacy connectors.
|
|
USB 3.0 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the Super Speed channels of a USB 3.0 cable and mated cable assembly.
|
|
USB3 DPOJET MOI
This MOI specifies the testing procedures for USB 3.0 Transmitter Tests using Tektronix DPOJET and Tektronix Oscilloscopes.
|
|
USB 2.0 Hub MOI
High-Speed Electrical Testing - Hub MOI
|
|
USB 2.0 Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI
|
|
USB 3.1 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.1 (10 Gb/s) receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers.
|
|
USB 2.0 Test Procedures MOI
USB 2.0 Test Procedures Method of Implementation
|
|
USB 3.0 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.0 receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers.
|
|
Tektronix USB2.0 Device MOI
USB 2.0 Universal Serial Bus Measurement MOI
|
|
Tektronix High-Speed Electrical Testing - Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI
|