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Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

KOSTENLOS auf Ihrem PC testen .

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DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA bis 1 A
0,2 µV bis 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz – 10 MHz
± 30 V DC Bias

Gepulster I-U
-Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

 

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS verkürzt die Dauer von der Einrichtung bis zur Durchführung des Tests um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Fortschrittliche Mess-Hardware für DC I-V, C-U und i-U-Impulsmessungen
  • Starten Sie umgehend Ihre Messungen mit Hunderten benutzerdefinierbaren Anwendungstests, die in der Clarius-Software enthalten sind
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, Analysefunktionen

Genaue C-V-Charakterisierung

Messen Sie einstellige Femtofarade mit Keithleys neuester Kapazitätsspannungseinheit (CVU), der 4215-CVU. Durch die Integration der 1 V AC-Quelle in Keithleys branchenführende CVU-Architektur bietet die 4215-CVU Kapazitätsmessungen mit geringem Rauschen im Frequenzbereich von 1 kHz bis 10 MHz.

Highlights

  • Erster C-U-Messgerät seiner Klasse, das eine Versorgungsspannung von 1 V AC bewältigen kann
  • 1 kHz-Frequenzauflösung von 1 kHz bis 10 MHz
  • Messen Sie Kapazität, Leitwert und Eintritt
  • Messen Sie mit dem 4200A-CVIV Multiswitch auf bis zu 4 Kanälen

Femtofarad-Kapazitätsmessungen (1e-15F) mit dem 4215-CVU durchführen

4200A SCS Front Femtofarad

Messen. Umschalten. Wiederholen

Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Stabile Niederstrommessungen für die I-U-Charakterisierung

Mit den Modulen 4201-SMU und 4211-SMU können Sie stabile Niederstrommessungen in einem System mit hoher Kapazität erzielen. Der 4200A-SCS kann mit vier verfügbaren Modellen von Source Measure Units (SMU) an alle Ihre I-U-Messanforderungen angepasst werden. Keithley bietet vor Ort installierbare Einheiten und optionale Vorverstärkermodule und stellt so sicher, dass Sie die genauesten Niederstrommessungen ohne Ausfallzeiten durchführen können.

Stabile Niederstrommessungen mit hoher Testverbindungskapazität mit dem 4201-SMU und dem 4211-SMU

Highlights

  • Fügen Sie eine SMU hinzu, ohne das Gerät an das Werk zurückzusenden
  • Messungen im Femtoampere-Bereich
  • Bis zu 9 SMU-Kanäle
  • Optimiert für lange Kabel oder große Spannfutter

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

Verringern Sie Kosten und schützen Sie Ihre Investitionen

Keithley-Servicepläne bieten schnellen, qualitativ hochwertigen Service zu einen Bruchteil der Kosten, verglichen mit einer Reparatur ohne Serviceplan. Ein Mausklick oder ein Anruf genügt, um die Abdeckung von Reparaturkosten zu erhalten – kein Zeitverlust durch die Erstellung von Angeboten, Bestellungen oder Auftragsbestätigungen.

Weitere Informationen

 

4200A SCS Front Femtofarad
Datenblatt Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PKA
Hohe Auflösung bei I-U
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe
4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten
4200-PA: Ein Vorverstärker
8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PKB
Hohe Auflösung bei I-U und C-U
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe
4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten
4200-PA: Ein Vorverstärker
4215-CVU: Ein hochauflösendes C-U-Messgerät mit mehreren Frequenzen
8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PKC
Hohe Leistung bei I-U und C-U
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe
4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten
4211-SMU: Zwei Source Measurement Units mit hoher für hohe Kapazitäten
4200-PA: Zwei Vorverstärker
4215-CVU: Ein hochauflösendes C-U-Messgerät mit mehreren Frequenzen
8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket mit 4200-BTI-A enthält:
  • (1) 4225-PMU Ultraschnelles I-V-Modul
  • (2) 4225-RPM Remote-Vorverstärker/Switch-Module
  • ACS (Automatische Charakterisierungs-Suite)-Software
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot anfordern
4210CVU-2

Femtofarad-Kapazitätsmessungen

Kapazitäten unter Femtofarad mit dem 4215-CVU-Modul. Durch Ansteuern von 1 V AC kann die 4215-CVU bei der Messung eines 1 fF-Kondensators einen Rauschpegel von nur sechs Attofarad erreichen. Dies ist nur eine von Dutzenden Anwendungen der Clarius-Software zur Kapazitätsmessung und Extrahierung wichtiger Parameter.

Femtofarad-Kapazitätsmessungen (1e-15F) mit dem 4215-CVU durchführen

Optimale Kapazitäts- und AC-Impedanzmessungen durchführen

Highlights

  • Integrierte Funktion für Femtofarad-Messungen
  • 10.000 Frequenzschritte von 1 kHz bis 10 MHz
  • Beliebige Tests für ein beliebiges Gerät mithilfe von Benutzerbibliotheken individuell einrichten

Zuverlässigkeit von Halbleiter und NVM

Prüfen Sie Ihre neuen Technologien mit der gründlichen I-V-Pulscharakterisierung. Die 4200A-SCS umfasst die Unterstützung und Bereitschaftstests für die neuesten NVRAM-Technologien von Floating-Gate-Flash bis ReRAM und FeRAM. Dualquellen- und Messfunktionen in Bereich Strom und Spannung ermöglichen die Charakterisierung von Transienten- und I-V-Domänen.

Auswertung der Heißträger-induzierten Zersetzung von MOSFET-Geräten

Single Nanosecond Pulsing Lösungen für das Testen nichtflüchtiger Speicher

Impuls-I-V-Charakterisierung nicht flüchtigen Speichertechnologien

Semiconductor and NVM Reliability
C-V Measurement for High Impedance Applications

C-V-Messung für Anwendungen mit hoher Impedanz

Verwenden Sie die benutzerdefinierte Längstwellen-C-V-Methode von Keithley, um die Kapazität Ihrer Abtastung mit hohem Widerstand zu analysieren. Die Methode wird nur mit SMU-Geräten angewendet, kann jedoch mit einem 4210-CVU kombiniert werden, um Messungen höherer Frequenzen vorzunehmen.

Durchführen von Spannungsmessungen sehr geringer Frequenzkapazitäten an Geräten mit hoher Impedanz mithilfe des 4200A-SCS Parameteranalysators

Tipps und Methoden zur Vereinfachung der Charakterisierung von MOSFET-/MOSCAP-Bauelementen

Highlights

  • 0,01-10 Hz Frequenzbereich bei einer Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
  • 3,5-Stellen-Digitalauflösung, Mindestregelwert von 10 fF

Prüfung bei Verwendung von langen Kabeln oder kapazitiven Vorrichtungen

Verwenden Sie 4201- oder 4211-SMUs, wenn Sie Tests durchführen, die sehr lange Kabel oder Vorrichtungen mit höheren Kapazitäten erfordern. Diese SMUs sind ideal für den Anschluss von LCD-Teststationen, Tastköpfen, Schaltmatrizen oder anderen großen oder komplizierten Testgeräten. Mit vor Ort installierbaren Versionen können Sie die Kapazität erhöhen, ohne das Gerät an ein Servicecenter zurücksenden zu müssen.

Testing when using Long Cables or Capacitive Fixtures
Nanoscale Device Characterization

Charakterisierung von Geräten auf Nanoebene

Die Funktionen der integrierten Geräte des 4200A-SCS vereinfachen die Messanforderungen bei der Entwicklung von Elektronik auf Nanoebene, wie z  B. Kohlenstoff-Nanoröhrchen. Beginnen Sie mit Ihren Untersuchungen mit dem vorkonfigurierten Testprojekt und erweitern Sie Ihre Arbeiten von dort aus. Ein Impuls-Quellenmodus für SMUs hilft dabei, Überhitzungsprobleme zu verringern und kann in wenigen Sekunden mit einem Niederspannungs-C-V und ultraschnellen Impuls-Gleichstrommessungen kombiniert werden.

Elektrische Charakterisierung von Kohlenstoff-Nanoröhrchen-Transistoren (CNT FETs)

Widerstandsfähigkeit der Materialien

Verwenden Sie eine 4200A-SCS mit integrierten SMUs, um die Widerstandsfähigkeit mit einer kollinearen Vierpunkt-Messung oder der van-der-Pauw-Methode zu messen. Die enthaltenen Tests führen automatisch wiederholte van-der-Pauw-Berechnungen durch, sodass Sie wertvolle Forschungszeit sparen. Dank der maximalen Stromauflösung von 10 aA und einer Eingangsimpedanz von 10­­­­16 Ohm erhalten Sie genauere und präzisere Ergebnisse.

Widerstandsmessungen von Halbleitermaterialien mithilfe des 4200A-SCS Parameteranalysators und einer kollinearen Vierpunkt-Messung

van-der-Pauw- und Hall-Spannungsmessungen mit dem 4200A-SCS Parameteranalysator

Resistivity of Materials
MOSFET Characterization

MOSFET-Charakterisierung

Die 4200A-SCS kann alle zur vollständigen Charakterisierung von MOS-Geräten erforderlichen Geräte für Komponenten- oder Waferprüfungen umfassen. Enthaltene Prüfungen und Projekte lösen die Oxiddicke von MOSCap, Schwellenspannungen, Dotierstoffkonzentration, mobile Ionenkonzentration und vieles mehr. All dieses Tests können mit einem einzelnen Tastendruck über ein einzelnes Gerätegehäuse durchgeführt werden.

C‑V-Charakterisierung von MOS-Kondensatoren mithilfe des 4200A-SCS Parameteranalysators

Datenblatt Modul Beschreibung Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A ULTRASCHNELLES BTI-PKT Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4200A-CVIV MEHRFACHSCHALTER Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4225-PMU ULTRASCHNELLES IMPULSMESSGERÄT Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4225-RPM REMOTE-VORVERSTÄRKER-/SCHALTERMODUL Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4210-SMU HOCHLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4210-CVU KAPAZITÄT-SPANNUNGSEINHEIT Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4200-PA REMOTE-VORVERSTÄRKER-MODUL Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4200-SMU MITTELLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4220-PGU HOCHSPANNUNGSIMPULSGENERATOR Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4211-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4215-CVU KAPAZITÄT-SPANNUNGSEINHEIT Konfiguration und Angebot
Datenblatt ansehen 4201-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT Konfiguration und Angebot