Kontaktaufnahme
Live-Chat mit Tektronix-Vertretern. Verfügbar von 9 bis 17 Uhr CET Geschäftstage.
Kontaktieren Sie uns telefonisch unter
Verfügbar von 9 bis 17 Uhr CET Geschäftstage.
Download
Laden Sie Handbücher, Datenblätter, Software und vieles mehr herunter:
Feedback
Produktsupport und Downloads
Willkommen beim Tektronix-Produktsupport
Wir freuen uns, den ganzen Tag mit Ihnen über Technik zu sprechen, aber wir wissen, dass Sie es eilig haben. Daher haben wir es Ihnen leicht gemacht, Handbücher, Datenblätter und Software für alle unsere aktuellen Produkte und viele nicht mehr verfügbare Produkte herunterzuladen. Sagen Sie uns einfach, welches Produkt Sie verwenden, und wir zeigen Ihnen alles, was wir haben.
Das von Ihnen ausgesuchte Produkt kann derzeit gekauft werden. Außerdem stehen die folgenden Supportinformationen zur Verfügung.
-
Technische Dokumente Dokumenttyp Veröffentlichungsdatum Programming and Erasing Flash Memory Devices Using the Keithley S530 Pulse Generator Option
This note provides an overview of how to use the S530 Parametric Test System’s pulse source option to program and erase NAND flash memory cells. For further information on these measurements and on the S530 Parametric Test System pulse option …Anwendungshinweis Protecting Parametric Test Systems and the Test Environment from Damaging Transient Overvoltages and Overcurrents
Measuring breakdown parameters is increasingly required to predict a device’s safe region of operation. Sometimes, those breakdown conditions in reliability testing and breakdown test occur as a result of unexpected behaviors, such as a second …Anwendungshinweis Performing van der Pauw Sheet Resistance Measurements Using the Keithley S530 Parametric Tester
Accurate low voltage measurements are essential to many semiconductor tests. Often, test structures such as contact chains, vias, and metal structures have resistances on the order of tens to hundreds of milliohms. Measuring such small resistances …Anwendungshinweis Making Microsecond Pulse and AC Measurements with the S530 Parametric Test System by Integrating 4200A-SCS Parameter Analyzer Applications
This application note describes how to generate microsecond pulsed I-V sweeps and tests, as well as make AC impedance measurements, with the S530 Parametric Test System by calling built-in user libraries from the 4200A-SCS Parameter Analyzer in the …Anwendungshinweis 9139B Probe Card Adapter Board Files
This zip file contains files for fabrication of a 9139B-PCA (Probe Card Adapter) probe card. Files include a fabrication print and Gerber files.Technische Daten