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Datenblatt Literaturnummer Veröffentlichungsdatum ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices Datasheet
1KW-2996-5
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Technische Dokumente Dokumenttyp Veröffentlichungsdatum MOSFET Testing System Flyer
Learn more about integrated measurement systems for comprehensive characterization of power MOSFETs and other devices. Keithley Parametric Curve Tracer (PCT) systems offer a complete solution for high voltage (± 3kV) C-V measurements. System …Datenblatt