DDR-Prüfung, -Validierung und -Fehlerbehebung

DDR-Speicherschnittstelle

DDR-Speicher (Double Data Rate) wird in immer mehr Geräten verwendet. Es begann mit Laptops, Computern und Mobilgeräten und entwickelt sich nun zu hochmodernen Servern, Automobil- und Cloud-Computing-Anwendungen. Das Testen und Validieren der Leistung von DDR-Systemen kann eine Herausforderung sein. Ein Upgrade Ihres Labors mit Oszilloskopen, Sonden und Testautomatisierungssoftware, die unter Berücksichtigung der Speichertechnologie entwickelt wurden, kann den Prozess jedoch einfacher und effizienter machen.

DDR5
LPDDR5
DDR4/LPDDR4
DDR3/LPDDR3

DDR5

Im Vergleich zu DDR3/4 verbessert DDR5 Bandbreite, Dichte und Kanaleffizienz. Höhere Datenübertragungsraten und schnellere Signalgeschwindigkeiten erfordern jedoch höhere Leistungsmessungen für Compliance, Debugging und Validierung.

Unsere TekExpress DDR5-Transmitterlösung erfüllt die neuesten JEDEC-Speicherstandardanforderungen, sodass Sie mehr Zeit für die Validierung des Speicherdesigns nutzen können und weniger Zeit für die Datenerfassung aufwenden müssen. Die Option für die DDR5-Testautomatisierungssoftware ist für Oszilloskope der Serien MSO/DPO70000DX/SX verfügbar und bietet:

DFE-Analyse bei erhöhtem DDR-Traffic
Automatisierte Lese- und Schreib-Burst-Trennung
De-Embedding-Techniken mit SDLA

Weitere Informationen: Automatisierte TekExpress DDR5 Transmitter-Lösung

Weitere Informationen:TekExpress DDR5 Transmitter-Datenblatt

LPDDR5

LPDDR5 DRAM ist die Reaktion auf die steigende Nachfrage nach höherer Leistungsfähigkeit bei niedrigerem Stromverbrauch für 5G in den Märkten Mobilfunk, IdD, Automotive, Laptops, Tablets und Netzwerksystemen.

Unsere LPDDR5-Transmitterlösung erfüllt die neuesten JEDEC-Speicherstandardanforderungen, sodass Sie die LPDDR5 DRAM-Designs bei maximaler Datenrate bedenkenlos validieren können. Die optionale LPDDR5-Testautomatisierungs-Software bietet:

Automatisierte Lese- und Schreib-Burst-Trennung
Leistungsstarke Funktionen für Advance Mode und Fehlerbeseitigung
De-Embedding-Techniken mit SDLA
Weitaus kürzere Testzeiten als Konkurrenzlösungen

Weitere Informationen: LPDDR5-Sender-Lösung

Weitere Informationen: LPDDR5-Sender-Datenblatt

DDR4/LPDDR4

Schnelle Datenraten, Flexibilität und bewährte Technologie führen zu einer weiten Verbreitung von DDR4-DRAM in heutigen Geräten. Dennoch muss darauf geachtet werden, dass die Designs den JEDEC-Standards entsprechen. Für Oszilloskope der Serien MSO/DPO70000C/DX/SX sind Optionen für die Testautomatisierungssoftware DDRA und DDR-LP4 verfügbar. Sie bieten:

Einfache Identifizierung von Lese- und Schreibvorgängen
Automatisches Einrichten und Testen gemäß DDR4- oder LPDDR4-Spezifikationen
Automatisierte Berichterstellung
Unterstützung für eine Vielzahl von Interposern und Hochleistungssonden

Weitere Informationen: DDRA-Speicherschnittstellenüberprüfung und Debug-Datenblatt

DDR3/LPDDR3

Amplituden-, Timing- und Augendiagrammmessungen sind wichtig, um die Einhaltung der elektrischen JEDEC-Standards für DDR3- und LPDDR3-Designs zu überprüfen.

Testautomatisierungspakete sind für Oszilloskope der MSO/DPO70000C/DX/SX-Serie mit hoher Bandbreite und für MSOs der 6er-Serie mit ihren 12-Bit-Analog-Digital-Wandlern verfügbar.

Beide Plattformen bieten:

Einfache Identifizierung von Lese- und Schreibvorgängen
Automatisches Einrichten und Testen gemäß DDR3-Spezifikationen
Automatisierte Berichterstellung
Unterstützung für eine Vielzahl von Interposern und Hochleistungssonden

MSO-Serie 6: DDR3- und LPDDR3-Mess- und Analysedatenblatt

MSO/DPO70000C/DX/SX: DDRA-Speicherschnittstellenüberprüfung und Debug-Datenblatt