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MODELL ODER SCHLÜSSELWORT

SMU-Gerät Keithley 2606B High Density SourceMeter

Das SMU-Gerät 2606B High Density System SourceMeter bietet vier 20-Watt-SMU-Kanäle in einem 1HE-Gehäuse. Hersteller stehen vor der Herausforderung, die verfügbare Grundfläche zu optimieren und Testzeiten und -kosten zu reduzieren. Das 2606B verbessert die Dichte um bis zu einem Faktor von 3, erhöht den Durchsatz und minimiert den Bedarf an weiteren Racks für Testausrüstungen. Dieses SMU-Gerät ist die perfekte Lösung für Produktionstests von Laserdioden, LEDs, 2- und 3-poligen Halbleitern und zahlreichen anderen Komponenten.

KANÄLE

4

VI-Bereich

100 fA - 3 A

100 nV - 20 V

GENAUIGKEIT

0,015 %

6,5 Stellen

MAX. GESCHWINDIGKEIT

20k Ablesungen/s in Puffer

Verbessert die Kanaldichte um das 3-fache

Wenn Platz für Racks teuer ist und Sie das Hinzufügen neuer Racks auf ein Mindestmaß reduzieren müssen, können Sie mit dem 2606B mehr Kanalkapazität im gleichen Rack unterbringen als mit herkömmlichen SMUs im 2HE-Format.

  • Einfaches Stapeln und Einschieben
  • Kein zusätzlicher thermischer 1HE-Isolierabstand erforderlich
  • 3 Mal mehr Kanäle ohne mehr Platzbedarf
  • Nutzen Sie die gleiche Anzahl an Kanälen und belegen Sie 3 Mal weniger Platz

Verbindet die Funktionen von zwei 2602B-Geräten

Erleben Sie die gleiche, überlegene Messintegrität, Synchronisierung, Geschwindigkeit und Genauigkeit wie das branchenführende Keithley 2602B System SourceMeter, aber im 1HE-Format. Das 2606B verwendet außerdem die gleichen Analog-, Digital-E/A- und TSP Link-Anschlüsse wie das 2602B und ermöglicht so eine nahtlose Migration.

  • Messgenauigkeit von 0,015 %
  • Auflösung mit 6 1/2 Stellen
  • 100 nA-Niederstrombereich mit 2-pA-Empfindlichkeit
  • 8-polige Phoenix-Analog- und 25-polige Digital-E/A-Anschlüsse

Systemleistung für unübertroffenen Produktionsdurchsatz

Die TSP (Test Script Processing)-Technologie integriert vollständige Testprogramme und führt sie dann innerhalb des SMU-Gerät aus, um so die branchenweit beste Leistung zu bieten. Die TSP-Link®-Technologie ermöglicht die Erweiterung auf bis zu 64 Kanäle für paralleles SMU-pro-Pin-Testen mit hoher Geschwindigkeit ohne ein Hauptgerät. Alle Kanäle werden gleichzeitig und unabhängig bei <500 ns gesteuert.

  • Zeitraubende Buskommunikation zum und vom PC entfällt
  • TSP-Scriptcode ist mit dem Gerät 2602B SourceMeter kompatibel
  • Anschluss von bis zu 32 TSP-Link-Knoten oder 64 unabhängigen SMU-Kanälen
  • Einfache Neukonfiguration bei geänderten Prüfanforderungen
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Messauflösung (Strom/Spannung) Strom Listenpreis
2606B

4

3A

20V

100fA / 100nV

20 W

Konfiguration und Angebot
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Messauflösung (Strom/Spannung) Strom Listenpreis
2606B

4

3A

20V

100fA / 100nV

20 W

Konfiguration und Angebot

Laserdioden (VCSEL)-Produktionstest für 3D-Sensoranwendungen

Das branchenbeste DC-Testsystem für Laserdioden (LD)-Produktionstests verwendet Highspeed-SMU mit hoher Genauigkeit für die Stromerzeugung und die Spannung-Strom-Überwachung von Laserdiodenmodulen, Photodiodenstrom. SMU sind die kostengünstigste LIV-Instrumentierung mit hoher Systemsynchronisation und hohem Durchsatz.

  • Programmierbare Stromquelle bis zu 3 A und 100 µs Impulsbreite
  • Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 0,1 fA
  • Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation

LED-Produktionstest mit großen Volumen

Das SMU 2606B ist ein branchenweit führendes Gerät für die LED-Charakterisierung und Produktionstests unter Gleichspannung. Es kann für Quellstrom oder -spannung konfiguriert werden, gekoppelt mit Spannungs- und Strommessung mit einer Genauigkeit von 0,015 % für eine Vielzahl von Testanforderungen. Zusätzlich bietet die Test Script Processor (TSP®)-Technologie Vorteile beim Durchsatz.

  • Programmierbare Stromquelle bis zu 3 A und 100 µs Impulsbreite
  • Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 0,1 fA
  • Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
  • Verkettung von bis zu 64 Kanälen für Paralleltests mit großen Volumen

Transistorcharakterisierung mit Mehrkanal-SMU-Geräten

Ein SMU-Gerät 2606B System SourceMeter ist ideal für Wafer- oder Pakettests von Transistoren geeignet, einschließlich Erfassung von Drain-Kurvenschar, Schwellenwertspannungen, Gate-Leckströme und Transkonduktanz. Es misst Strom und Spannung und gibt Strom und Spannung aus.

  • Programmierbare Stromquelle bis zu 3 A und 100 µs Impulsbreite
  • Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 0,1 fA
  • Höchste Genauigkeit 0,015 % mit 6½-stelliger Auflösung
  • Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
Datenblatt Zubehör Beschreibung
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Datenblatt ansehen 2600-FIX-TRX KABEL FÜR DEN ANSCHLUSS EINER SMU 2600 AN HOCH- UND NIEDER-TRIAX
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Datenblatt ansehen 2600-TRIAX TRIAX-ADAPTER FÜR SERIE 2600
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Datenblatt ansehen 7078-TRX-20 TRIAX-KABEL, 3 STECKPLÄTZE, 6,1 M
Datenblatt ansehen 7078-TRX-3 TRIAX-KABEL, 3 STECKPLÄTZE, 0,9 M
Datenblatt ansehen 7078-TRX-5 TRIAX-KABEL, 3 STECKPLÄTZE, 1,5 M
Datenblatt ansehen 7078-TRX-GND ADAPTER 3-SLOT-TRIAX-STECKER AN BNC (SCHUTZ ENTFERNT)
7079-308A Digital-E/A-Stecker (modellspezifisch)
174710700 CAT5-Crossover-Kabel für TSP-Link und direkte Ethernet-Anschlüsse
Datenblatt ansehen 8606 MODULARTASTKOPF-KIT
CA-126-1A Digital-E/A- und Triggerkabel, 1,5 m