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MODELL ODER SCHLÜSSELWORT

Optische SourceMeter-Geräte von Keithley

Mit Geräten von Keithley ist es einfach, ein L-I-V-System (Licht-Strom-Spannung) für kostengünstige Tests von Laserdiodenmodulen aufzubauen.

  • Photodiodenmessgerät zur Glasfaserausrichtung 2502 : Der Hochgeschwindigkeits-Analogausgang ermöglicht L-I-V-Prüfungen in der Glasfaserausrichtungsphase.
  • Testsystem mit gepulsten Laserdioden mit optionaler Ulbrichtkugel 2520/KIT1 : Synchronisieren des Testsystems mit Strombeschaffungs- und Messfunktionen für gepulste und kontinuierliche L-I-V-Prüfungen.
    HINWEIS: Dieses Produkt kann nicht in EU-Länder geliefert werden. Details .
  • TEC-SourceMeter-SMUs, 2510 und 2510-AT : Gewährleisten eine enge Temperatursteuerung für Laserdiodenmodule über die Steuerung des thermoelektrischen Kühlers.

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Keithley Optical SourceMeter Instruments

Merkmale

Vorteile

Aktive Temperatursteuerung Verhindert Temperaturschwankungen, die eine Änderung der dominanten Ausgangswellenlänge der Laserdiode verursachen könnten, die zu Problemen durch Signalüberschneidung und Übersprechen führt.
50 W TEC-Controller Ermöglicht höhere Testgeschwindigkeiten und einen breiteren Temperatursollwertbereich als andere Lösungen im niedrigen Leistungsbereich.
Vollständig digitale PID-Steuerung Bietet größere Temperaturbeständigkeit und einfache Aufrüstbarkeit durch einfachen Firmware-Wechsel.
Selbstoptimierungsfunktion für die Wärmesteuerungsschleife (2510-AT) Macht Trial- und-Error-Experimente zum Ermitteln der besten Kombination von P-, I- und D-Koeffizienten überflüssig.
Breiter Temperatursollwertbereich (-50 °C bis +225 °C) und hohe Sollwertauflösung (±0,001 °C) und -stabilität (±0,005 °C) Erfüllt die meisten Testanforderungen für Produktionstests von gekühlten optischen Komponenten und Subkomponenten.
Kompatibel mit zahlreichen Temperatursensoreingängen – Thermistoren, RTDs und IC-Sensoren Kompatibel mit den am häufigsten in den unterschiedlichsten Laserdiodenmodulen verwendeten Temperatursensortypen.
AC-Ohm-Messfunktion Verifiziert die Integrität des TEC-Geräts.
Vier-Draht-Erkennung von offenen/kurzen Leitungen für Wärmerückführungselement Eliminiert Fehler durch den Leitungswiderstand am Messwert und reduziert die Möglichkeit falsch-negativer Ergebnisse oder Geräteschäden.
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Strom Messauflösung (Strom/Spannung) Listenpreis
2510. 1 5 A 10 V 50 W - US $6,220
Konfiguration und Angebot
2510-AT 1 5 A 10 V 50 W - US $7,310
Konfiguration und Angebot
2502 2 20 mA 100 V 2 W 1 fA US $9,960
Konfiguration und Angebot
2520. 1 5 A 10 V 50 W 700 nA/0,33 mV US $27,700
Konfiguration und Angebot
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Strom Messauflösung (Strom/Spannung) Listenpreis
2510. 1 5 A 10 V 50 W - US $6,220
Konfiguration und Angebot
2510-AT 1 5 A 10 V 50 W - US $7,310
Konfiguration und Angebot
2502 2 20 mA 100 V 2 W 1 fA US $9,960
Konfiguration und Angebot
2520. 1 5 A 10 V 50 W 700 nA/0,33 mV US $27,700
Konfiguration und Angebot
Zubehör 2000-BENCHKIT
Datenblatt Beschreibung
LABORKONVERTIERUNGSSATZ FÜR MEHRERE MODELLE
Zubehör 2510-CAB
Datenblatt Beschreibung
KABELSATZ
Zubehör 4288-1
Datenblatt Beschreibung
GESTELLEINBAUSATZ MIT EINFACHBEFESTIGUNG
Zubehör 4288-2
Datenblatt Beschreibung
GESTELLEINBAUSATZ MIT ZWEIFACHBEFESTIGUNG
Zubehör 4288-5
Datenblatt Beschreibung
GESTELLSATZ
Datenblatt Zubehör Beschreibung
Anzeige Datenblatt 2000-BENCHKIT LABORKONVERTIERUNGSSATZ FÜR MEHRERE MODELLE
Anzeige Datenblatt 2510-CAB KABELSATZ
Anzeige Datenblatt 4288-1 GESTELLEINBAUSATZ MIT EINFACHBEFESTIGUNG
Anzeige Datenblatt 4288-2 GESTELLEINBAUSATZ MIT ZWEIFACHBEFESTIGUNG
Anzeige Datenblatt 4288-5 GESTELLSATZ
Pulse Testing of Laser Diodes

Literaturnummer 1KW-61212-0
White Paper
Measuring Laser Diode Optical Power with an Integrating Sphere
This white paper offers an overview on using an integrating sphere to measure the optical power of radiant sources in a production environment.
White Paper
Where in the pulse is the measurement made?
The 2520 measurement algorithm was designed to prevent problems with the pulse shape causing problems in the reported measurement. The algorithm described below is used for the laser diode V and I measurements, as well as the photodiode current …
FAQ-ID776666
2520 Pulsed Laser Diode Test System

Literaturnummer 1KW-61621-0
Datasheet
Model 2502 Dual Channel Picoammeter
2010 Catalog pages for Model 2502 Dual Channel Picoammeter.
Datasheet
Model 2510 TEC SourceMeter and Model 2510-AT Autotuning TEC SourceMeter
2010 Catalog pages for Model 2510 TEC SourceMeter and Model 2510-AT Autotuning TEC SourceMeter.
Datasheet
Model 2520INT Integrating Sphere for Pulsed Measurements
2010 Catalog pages for Models 2520INT-1-Ge and 2520/KIT1 Integrating Sphere for Pulsed Measurements.
Datasheet
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System User Manual
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System User Manual

Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System User Manual Rev. C
Teilenummer 2520-900-01D
Hauptbenutzer
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Quick Reference Guide Rev. B
2520 Pulsed Laser Diode Test System Quick Reference Quick Start User Manual

The 2520 combines high-current laser diode pulse and voltage measurement capabilities, and two stable DC bias voltage sources with two low-noise ammeters for dual-channel photodiode measurements.
Teilenummer 2520-903-01B
Hauptbenutzer
Models 2510 and 2510-AT Instrument Manual Addendum
This is an addendum to the Model 2510 Instruction Manual. This information concerns the 2510-AT, which includes PID temperature control loop autotuning. This addendum also contains information on a change in the maximum allowed PID derivative loop …

This is an addendum to the Model 2510 Instruction Manual. This information concerns the 2510-AT, which includes PID temperature control loop autotuning. This addendum also contains information on a change in the maximum allowed PID derivative loop constant (Kd, Ki, and Kp) values, which applies to both the 2510 and 2510-AT.
Teilenummer PA-779C
Benutzer
Model 2520 Continuous Pulse Mode Release Notes Rev. A
User Manual

Model 2520 Continuous Pulse Mode Release Notes Rev. A
Teilenummer 2510-910-01A
Versionshinweise
Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter User's Manual
User Manual

Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter User's Manual
Teilenummer 2510-900-01E
Hauptbenutzer
MODEL 2510 TEC SOURCEMETER INSTRUMENT SPECIFICATIONS
User Manual

MODEL 2510 TEC SOURCEMETER INSTRUMENT SPECIFICATIONS REV. C
Teilenummer SPEC-2510C
Benutzer
Models 2510 and 2510-AT Connector Label Packing List PA-791 Rev. A

Models 2510 and 2510-AT Connector Label Packing List PA-791 Rev. A
Teilenummer PA-791A
Benutzer
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Packing List PA-787 Rev. A
User Manual

Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Packing List PA-787 Rev. A
Teilenummer PA-787A
Benutzer
Keithley Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter
Service Manual

Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter Service Manual
Teilenummer 2510-902-01E
Service
2520 Firmware B11 Release Package
Firmware version B11 for the Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System including upgrade instructions and release notes.

Teilenummer 2520-800B11
Firmware
2510/2510AT VXIPnp/VISA-based Driver for Visual Basic (VB), VC/VC++, LabView (LV) (v5.1,6.x)&LabWindowsCVI(v5.5) Rev A01
DESCRIPTION VXI-PNP style multi-platform Instrument Driver for the 2510 and 2510AT. May be used with VB, VC/C++, LabView 5.1 or 6i, or LabWindows CVI 5.5 or later. Includes VISA and I/O configuration utility for Instrument communications

Teilenummer 2510-850A01
Treiber
LabVIEW (LV) Driver for the Models 2510 and 2510-AT

Teilenummer 2510-LV-6
Treiber
Flashwizard version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)
Flashwizard executable version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)

Teilenummer FLASH-WIZARD-C12
Firmware
Source Measure Unit (SMU) Instruments Selector Guide
This selector guide will help you determine which of Keithley's source measure unit (SMU) instruments is ideal for your testing needs.

Literaturnummer 1KW-61458-0
Produkt-Auswahlhilfe
Source Meters Selection Guide
Auswahlhilfe
#2214 High-Throughput DC Production Test of Telecommunications Laser Diode Modules
The constantly growing need for greater communications bandwidth is accelerating the demand for telecom laser diode (LD) modules. As the volume of production and the complexity of the LD modules increases, greater emphasis must be placed on cost …
Anwendungshinweis
Pulsed LIV Testing of Low Power Optical Devices with a Model 2520
Job #2428
Anwendungshinweis
Optimizing TEC PID Coefficients Automatically with the Model 2510-AT
Job #2364
Anwendungshinweis
Optoelectronics Test Selector Guide
Produkt-Auswahlhilfe
Keithley Pulse Solutions
Broschüre
MODEL 2510 TEC SOURCEMETER INSTRUMENT SPECIFICATIONS

MODEL 2510 TEC SOURCEMETER INSTRUMENT SPECIFICATIONS REV. C
Teilenummer SPEC-2510C
Leistungsprüfung