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2601B-PULSE 10 µsec Impulsgerät/SMU

Das System-SourceMeter® 10 µsec Impulsgerät/SMU-Gerät vereint die Leistung eines Hochstrom-/Hochgeschwindigkeits-Impulsgebers mit dem Takt und dem vollständigen Funktionsumfang eines traditionellen SMU-Geräts in einem einzigen Instrument. Seine eindrucksvolle Pulsbreite von 10 A bei 10 V bei 10 μs und seine Digitalisierungsfähigkeit bei vollen 1 MS/s erhöht die Produktivität in den verschiedensten Anwendungen deutlich: ob nun bei der IV-Charakterisierung im Labor oder aber bei stark automatisierten gepulsten I-U-Produktionstests.
Kanäle

1 Impulsgerät/1 SMU

I-U-Bereich, Impulsgerät

1 μA – 10 A
1 μV – 10 V

I-U-Bereich, SMU

100 fA – 10 A
100 nV – 40 V

Genauigkeit

Impulsgerät: 0,05 %
SMU: 0,015 %

Max. Geschwindigkeit

1 Mio. Ablesungen/s

Erreichen Sie eine hohe Impulstreue ohne manuelle Impulsabstimmung

Dank des Regelkreissystems des 2601B-PULSES ist bei Belastungsänderungen bis zu 3 μH kein manuelles Einstellen mehr nötig und es wird sichergestellt, dass Ihr Impuls bei einer Impulsausgabe zwischen 10 μs und 500 μs auf einem beliebigen Stromniveau bis zu 10 Ampere kein Überschwingen oder Klingeln aufweist. Bei Impulsanstiegszeiten von < 1,7 μs, können Sie Ihr zu prüfendes Gerät oder Ihren zu prüfenden Schaltkreis ordnungsgemäß charakterisieren.

  • Ausgabe von 10 A bei 10 V mit einer Impulsbreite von 10 μs
  • Sichere Charakterisierung dank einer Impulsanstiegsrate von < 1,7 μs
  • High-Fidelity-Impulsausgang, auf keinem Stromniveau Einstellung erforderlich
KI10A RiseTime
2601B Pulse Pulser Plus SMU

Vereint den Funktionsumfang eines schnellen Impulsgebers und einer SMU in einem Instrument

Das 2601B-PULSE fügt der überragenden Messintegrität, Synchronisation, Geschwindigkeit und Genauigkeit, die Sie vom marktführenden SMU-Gerät Keithley 2601B bereits kennen, den Funktionsumfang eines Impulsgebers hinzu.

  • Impulsgeber mit 0,05 % Grundmessgenauigkeit bei 1 MS/s Digitalisierung
  • SMU mit 100-nA-Niederstrombereich mit 100-fA-Empfindlichkeit
  • BNC-Anschlüsse auf der Rückseite für schnellen Kabelanschluss

Eingebettetes Scripting und Konnektivität sorgen für unübertroffenen Produktionsdurchsatz

Die TSP® (Test Script Processing)-Technologie integriert vollständige Testprogramme und führt sie dann innerhalb des SMU-Geräts aus, um so die branchenweit beste Leistung zu bieten. Die TSP-Link®-Technologie ermöglicht die Erweiterung auf bis zu 32 TSP-Link-Knoten und sorgt so für paralleles SMU-pro-Pin-Testen mit hoher Geschwindigkeit ohne ein Hauptgerät.

  • Zeitraubende Buskommunikation zum und vom PC entfällt
  • Erweiterte Datenverarbeitung und Flusssteuerung
  • Verbinden Sie bis zu 32 TSP-Link-Knoten
  • Einfache Neukonfiguration bei geänderten Prüfanforderungen
2601B PUlse Embedded Scripting
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Messauflösung (Strom/Spannung) Strom Listenpreis Configure And Quote
2601B-PULSE 1 10 A 40 V 100 fA / 100 nV Pulser: 100 W instantaneous
SMU: 200 W instantaneous
US $16,400 Konfiguration und Angebot
Modell Kanäle Max. Stromquellen-/Messbereich Max. Spannungsquellen-/Messbereich Messauflösung (Strom/Spannung) Strom Listenpreis Configure And Quote
2601B-PULSE 1 10 A 40 V 100 fA / 100 nV Pulser: 100 W instantaneous
SMU: 200 W instantaneous
US $16,400 Konfiguration und Angebot
2601B-Pulse LIDAR

Laserdioden (VCSEL)-Produktionstest für ToF/LIDAR-Anwendungen

Als ideale Lösung für LIV-Produktionstests von Oberflächenemittern (VCSEL) verfügt das 2601B-PULSE über einen Impulsgeber mit 10 μs und eine SMU mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit für die Stromimpulserzeugung und die Spannung-Strom-Überwachung von VCSELs, VCSEL-Anordnungen und Laserdiodenmodulen. SMU sind die kostengünstigste LIV-Instrumentierung mit hoher Systemsynchronisation und hohem Durchsatz.

  • Programmierbare Impulsstromquelle bis 10 A und 10 µs Pulsbreite
  • Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 100 fA
  • Integrierte TSP®-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation

Fehleranalyse und Qualitätssicherung

Halbleiterhersteller und -forscher suchen laufend nach Möglichkeiten, das Versagen von Geräten im Einsatz zu verhindern. Ingenieure, die sich mit der Halbleiter-Fehleranalyse (FA) beschäftigen, verbringen unzählige Stunden damit, herauszufinden, warum ein Gerät ausgefallen ist und wie dies in Zukunft verhindert werden kann.

  • Optimierung der FA-Prozesse mit SMU und Impulstests
  • Digitale E/A zur Triggerung externer IR-Kameras
  • Eingebaute Zeitgeberfunktion mit 1 μs Auflösung und ±100 ppm Genauigkeit.
2601B-Pulse Pulsed DC I-V LED Characterization

Vereinfachte gepulste/Gleichstrom- IV-Charakterisierung von LEDs

Die einzigartigen Stromimpuls-, Gleichspannungs- und Stromfähigkeiten des 2601B-PULSE ermöglichen eine LED-Gleichstrom- und gepulste IV-Charakterisierung mit hoher Geschwindigkeit eine und Produktionsprüfung mit einer Grundmessgenauigkeit von 0,015 %. Die Impulsprüfung von MicroLEDs, LEDs oder HBLEDs (High-Brightness-LEDs) vermindert die Selbsterwärmung und ihre negative Auswirkung auf die Messgenauigkeit. Außerdem müssen Sie sich keine Sorgen zu machen, dass das Bauteil beim Testen beschädigt wird.

  • Programmierbare Stromquelle bis zu 10 A und 10 µs Impulsbreite
  • Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 100 fA
  • Digitalisierer mit 1 Megasample / Sekunde für die schnelle Erfassung von Quell- und Messdaten
  • Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation

Testen von Halbleitern auf Wafern

Das 2601B-PULSE und andere System SourceMeter® SMU-Geräte der 2600B-Serie von Keithley verbinden die Skalierbarkeit und die Flexibilität von Gestell- und Stapelgeräten mit der Integrationsfähigkeit und dem hohen Durchsatz von Mainframe-basierten Systemen, indem die TSP- und TSP-Link-Technologien verwendet werden, um den Herstellungsplatzbedarf und die Testkosten zu verringern. Diese Geräte werden regelmäßig für das Testen von Halbleitern auf Wafern bei Laserdioden, LEDs, Transistoren usw. genutzt.

  • Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
  • Verbindung von bis zu 32 Geräten über TSP-Link mit anderen Keithley-TSP-Geräten bei 500-ns-Synchronisation
2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing

Keithley KickStart-Gerätesteuerungssoftware. Keine Programmierung erforderlich.

Messungen lassen sich mit KickStart einfach durchführen. Charakterisieren Sie Ihre Geräte und Materialien rasch und problemlos ohne Programmierung. Lassen Sie sich Echtzeit-Ergebnisse im Grafik- und Tabellenformat anzeigen. Exportieren Sie Datentabellen oder Grafiken für die schnelle Berichterstellung oder weitere Analysen in Excel.

  • Erstellen Sie schnell Einzel- oder Sweep-Impulstests
  • Generieren von Linear-, Log-, Listen- und Dual-Sweeps von Spannungs- und Stromquelle mit gleichzeitiger Messung
  • IV-Charakterisierungsanwendung zur Unterstützung von bis zu 4 SMU-Geräten (Source Measure Unit)
  • GPIB-, USB-, Ethernet-Anschlussmöglichkeiten unter Windows
Keithley Kickstart IV Characterization Plot

Automatisierte Steuerung vom Labor bis zur Fabrik

Keithleys Automated Characterization Suite (ACS) bietet die volle Kontrolle über Ihre Geräte. Egal, ob Sie einige Geräte über Ihr Board steuern oder ein komplettes Test-Rack für die Produktion automatisieren möchten, ACS bietet eine flexible, interaktive Umgebung für die Charakterisierung von Geräten, parametrische Tests, Zuverlässigkeitstests und einfache Funktionstests.

  • Führen Sie einfache Einmaltests durch oder erstellen Sie komplexe Projektbäume
  • Programmierung mit Python innerhalb von ACS für unbegrenzte Flexibilität und Kontrolle
  • Manuelle oder automatisierte Wafer-Prober-Steuerung
  • Funktionen für Datenmanagement und statistische Analysen

Automatisierung starten

KOSTENLOSE Skriptentwicklerumgebung zur Optimierung der Geräteleistung

Test Script Builder (TSB) ist ein Software-Werkzeug, welches das Erstellen von Testskripts für Geräte von Keithley vereinfacht, die TSP® (Test Script Processor)-fähig sind.

  • Befehle senden und Antworten vom Gerät empfangen
  • Benutzerskripts erstellen, verwalten und ausführen
  • Fehler in Skripts beheben
  • Factory-Skripts importieren, um sie anzuzeigen bzw. zu bearbeiten und in Benutzerskripts zu konvertieren

TSB-Software herunterladen

Keithley Test Script Builder
Zubehör 2600-BAN
Datenblatt Beschreibung
BANANENSTECKER SCHNITTSTELLENKABEL
Zubehör 2600-KIT
Datenblatt Beschreibung
SERIE 2600 KLEMMSCHRAUBEN VERBINDUNGSSATZ
Zubehör 2601B-PULSE-CA1
Datenblatt Beschreibung
2601B-PULSE, 1,2 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz
Zubehör 2601B-PULSE-CA2
Datenblatt Beschreibung
2601B-PULSE 3 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz
Zubehör 2601B-PULSE-CA3
Datenblatt Beschreibung
2601B-PULSE, 3,0 m, 15 Ohm, BNC-zu-BNC-Kabelsatz
Zubehör 4299-1
Datenblatt Beschreibung
GESTELLEINBAUSATZ SERIE 2600, HOCHBELASTBAR, FÜR EINE EINHEIT
Zubehör 4299-2
Datenblatt Beschreibung
GESTELLEINBAUSATZ, HOCHBELASTBAR, FÜR ZWEI EINHEITEN
Zubehör 7078-TRX-GND
Datenblatt Beschreibung
ADAPTER 3-SLOT-TRIAX-STECKER AN BNC (SCHUTZ ENTFERNT)
Zubehör 8101-PIV
Datenblatt Beschreibung
PIV-DEMOVORRICHTUNG
Zubehör KPCI-488LPA
Datenblatt Beschreibung
IEEE-488-SCHNITTSTELLENPLATINE MIT FLACHER BAUWEISE
Zubehör KUSB-488B
Datenblatt Beschreibung
IEEE-488.2 USB-ZU-GPIB-SCHNITTSTELLENADAPTER
Datenblatt Zubehör Beschreibung
Anzeige Datenblatt 2600-BAN BANANENSTECKER SCHNITTSTELLENKABEL
Anzeige Datenblatt 2600-KIT SERIE 2600 KLEMMSCHRAUBEN VERBINDUNGSSATZ
Anzeige Datenblatt 2601B-PULSE-CA1 2601B-PULSE, 1,2 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz
Anzeige Datenblatt 2601B-PULSE-CA2 2601B-PULSE 3 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz
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Anzeige Datenblatt KPCI-488LPA IEEE-488-SCHNITTSTELLENPLATINE MIT FLACHER BAUWEISE
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