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2601B-PULSE 10 µsec Impulsgerät/SMU
1 Impulsgerät/1 SMU
1 μA – 10 A
1 μV – 10 V
100 fA – 10 A
100 nV – 40 V
Impulsgerät: 0,05 %
SMU: 0,015 %
1 Mio. Ablesungen/s
Erreichen Sie eine hohe Impulstreue ohne manuelle Impulsabstimmung
Dank des Regelkreissystems des 2601B-PULSES ist bei Belastungsänderungen bis zu 3 μH kein manuelles Einstellen mehr nötig und es wird sichergestellt, dass Ihr Impuls bei einer Impulsausgabe zwischen 10 μs und 500 μs auf einem beliebigen Stromniveau bis zu 10 Ampere kein Überschwingen oder Klingeln aufweist. Bei Impulsanstiegszeiten von < 1,7 μs, können Sie Ihr zu prüfendes Gerät oder Ihren zu prüfenden Schaltkreis ordnungsgemäß charakterisieren.
- Ausgabe von 10 A bei 10 V mit einer Impulsbreite von 10 μs
- Sichere Charakterisierung dank einer Impulsanstiegsrate von < 1,7 μs
- High-Fidelity-Impulsausgang, auf keinem Stromniveau Einstellung erforderlich
Vereint den Funktionsumfang eines schnellen Impulsgebers und einer SMU in einem Instrument
Das 2601B-PULSE fügt der überragenden Messintegrität, Synchronisation, Geschwindigkeit und Genauigkeit, die Sie vom marktführenden SMU-Gerät Keithley 2601B bereits kennen, den Funktionsumfang eines Impulsgebers hinzu.
- Impulsgeber mit 0,05 % Grundmessgenauigkeit bei 1 MS/s Digitalisierung
- SMU mit 100-nA-Niederstrombereich mit 100-fA-Empfindlichkeit
- BNC-Anschlüsse auf der Rückseite für schnellen Kabelanschluss
Eingebettetes Scripting und Konnektivität sorgen für unübertroffenen Produktionsdurchsatz
Die TSP® (Test Script Processing)-Technologie integriert vollständige Testprogramme und führt sie dann innerhalb des SMU-Geräts aus, um so die branchenweit beste Leistung zu bieten. Die TSP-Link®-Technologie ermöglicht die Erweiterung auf bis zu 32 TSP-Link-Knoten und sorgt so für paralleles SMU-pro-Pin-Testen mit hoher Geschwindigkeit ohne ein Hauptgerät.
- Zeitraubende Buskommunikation zum und vom PC entfällt
- Erweiterte Datenverarbeitung und Flusssteuerung
- Verbinden Sie bis zu 32 TSP-Link-Knoten
- Einfache Neukonfiguration bei geänderten Prüfanforderungen
| Modell | Kanäle | Max. Stromquellen-/Messbereich | Max. Spannungsquellen-/Messbereich | Messauflösung (Strom/Spannung) | Strom | Listenpreis |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 2601B-PULSE | 1 | 10 A | 40 V | 100 fA / 100 nV | Pulser: 100 W instantaneous SMU: 200 W instantaneous |
US $13,000 Konfiguration und Angebot |
| Modell | Kanäle | Max. Stromquellen-/Messbereich | Max. Spannungsquellen-/Messbereich | Messauflösung (Strom/Spannung) | Strom | Listenpreis |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 2601B-PULSE | 1 | 10 A | 40 V | 100 fA / 100 nV | Pulser: 100 W instantaneous SMU: 200 W instantaneous |
US $13,000 Konfiguration und Angebot |
Laserdioden (VCSEL)-Produktionstest für ToF/LIDAR-Anwendungen
Als ideale Lösung für LIV-Produktionstests von Oberflächenemittern (VCSEL) verfügt das 2601B-PULSE über einen Impulsgeber mit 10 μs und eine SMU mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit für die Stromimpulserzeugung und die Spannung-Strom-Überwachung von VCSELs, VCSEL-Anordnungen und Laserdiodenmodulen. SMU sind die kostengünstigste LIV-Instrumentierung mit hoher Systemsynchronisation und hohem Durchsatz.
- Programmierbare Impulsstromquelle bis 10 A und 10 µs Pulsbreite
- Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 100 fA
- Integrierte TSP®-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
Erzeugung von 10-μs-Impulsen mit dem 2601B-PULSE System-SourceMeter Impuls-SMU-Gerät
Der neue Stromimpulsgeber / SMU macht die zeitraubende manuelle Zeiteinstellung zur Ausgabe von niedrigen Impulsen von 10 µs überflüssig
Vereinfachte gepulste/Gleichstrom- IV-Charakterisierung von LEDs
Die einzigartigen Stromimpuls-, Gleichspannungs- und Stromfähigkeiten des 2601B-PULSE ermöglichen eine LED-Gleichstrom- und gepulste IV-Charakterisierung mit hoher Geschwindigkeit eine und Produktionsprüfung mit einer Grundmessgenauigkeit von 0,015 %. Die Impulsprüfung von MicroLEDs, LEDs oder HBLEDs (High-Brightness-LEDs) vermindert die Selbsterwärmung und ihre negative Auswirkung auf die Messgenauigkeit. Außerdem müssen Sie sich keine Sorgen zu machen, dass das Bauteil beim Testen beschädigt wird.
- Programmierbare Stromquelle bis zu 10 A und 10 µs Impulsbreite
- Spannungs- und Strommessauflösung bei 100 nV und 100 fA
- Digitalisierer mit 1 Megasample / Sekunde für die schnelle Erfassung von Quell- und Messdaten
- Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
Testen von Halbleitern auf Wafern
Das 2601B-PULSE und andere System SourceMeter® SMU-Geräte der 2600B-Serie von Keithley verbinden die Skalierbarkeit und die Flexibilität von Gestell- und Stapelgeräten mit der Integrationsfähigkeit und dem hohen Durchsatz von Mainframe-basierten Systemen, indem die TSP- und TSP-Link-Technologien verwendet werden, um den Herstellungsplatzbedarf und die Testkosten zu verringern. Diese Geräte werden regelmäßig für das Testen von Halbleitern auf Wafern bei Laserdioden, LEDs, Transistoren usw. genutzt.
- Integrierte TSP-Verarbeitungsfunktion verringert die PC-Gerät-Buskommunikation
- Verbindung von bis zu 32 Geräten über TSP-Link mit anderen Keithley-TSP-Geräten bei 500-ns-Synchronisation
Keithley KickStart-Gerätesteuerungssoftware. Keine Programmierung erforderlich.
Messungen lassen sich mit KickStart einfach durchführen. Charakterisieren Sie Ihre Geräte und Materialien rasch und problemlos ohne Programmierung. Lassen Sie sich Echtzeit-Ergebnisse im Grafik- und Tabellenformat anzeigen. Exportieren Sie Datentabellen oder Grafiken für die schnelle Berichterstellung oder weitere Analysen in Excel.
- Erstellen Sie schnell Einzel- oder Sweep-Impulstests
- Generieren von Linear-, Log-, Listen- und Dual-Sweeps von Spannungs- und Stromquelle mit gleichzeitiger Messung
- IV-Charakterisierungsanwendung zur Unterstützung von bis zu 4 SMU-Geräten (Source Measure Unit)
- GPIB-, USB-, Ethernet-Anschlussmöglichkeiten unter Windows
Download KickStart today and try it out for 60 days
Keithley KickStart Datasheet
KOSTENLOSE Skriptentwicklerumgebung zur Optimierung der Geräteleistung
Test Script Builder (TSB) ist ein Software-Werkzeug, welches das Erstellen von Testskripts für Geräte von Keithley vereinfacht, die TSP® (Test Script Processor)-fähig sind.
- Befehle senden und Antworten vom Gerät empfangen
- Benutzerskripts erstellen, verwalten und ausführen
- Fehler in Skripts beheben
- Factory-Skripts importieren, um sie anzuzeigen bzw. zu bearbeiten und in Benutzerskripts zu konvertieren
| Datenblatt | Zubehör | Beschreibung |
|---|---|---|
| Anzeige Datenblatt | 2600-BAN | BANANENSTECKER SCHNITTSTELLENKABEL |
| Anzeige Datenblatt | 2600-KIT | SERIE 2600 KLEMMSCHRAUBEN VERBINDUNGSSATZ |
| Anzeige Datenblatt | 2600-TLINK | SERIE 2600 TRIGGER I/O FÜR ANSCHLUSS DES SCHNITTSTELLENKABELS |
| Anzeige Datenblatt | 2601B-PULSE-CA1 | 2601B-PULSE, 1,2 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz |
| Anzeige Datenblatt | 2601B-PULSE-CA2 | 2601B-PULSE 3 m, 50 Ohm BNC-zu-BNC-Kabelsatz |
| Anzeige Datenblatt | 2601B-PULSE-CA3 | 2601B-PULSE, 3,0 m, 15 Ohm, BNC-zu-BNC-Kabelsatz |
| Anzeige Datenblatt | 4299-1 | GESTELLEINBAUSATZ SERIE 2600, HOCHBELASTBAR, FÜR EINE EINHEIT |
| Anzeige Datenblatt | 4299-2 | GESTELLEINBAUSATZ, HOCHBELASTBAR, FÜR ZWEI EINHEITEN |
| Anzeige Datenblatt | 7078-TRX-GND | ADAPTER 3-SLOT-TRIAX-STECKER AN BNC (SCHUTZ ENTFERNT) |
| Anzeige Datenblatt | 8101-4TRX | 4-POLIGE TRANSISTORVORRICHTUNG |
| Anzeige Datenblatt | 8101-PIV | PIV-DEMOVORRICHTUNG |
| Anzeige Datenblatt | 8606 | MODULARTASTKOPF-KIT |
| Anzeige Datenblatt | KPCI-488LPA | IEEE-488-SCHNITTSTELLENPLATINE MIT FLACHER BAUWEISE |
| Anzeige Datenblatt | KUSB-488B | IEEE-488.2 USB-ZU-GPIB-SCHNITTSTELLENADAPTER |