Keithley Automated Characterization Suite (ACS)-Software

All-in-One-Lösung: Vom Testaufbau bis zur Analyse der Ergebnisse

ACS ist eine flexible, interaktive Software-Testumgebung für die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, für Zuverlässigkeitstests, parametrische Tests und Komponentenfunktionstests. ACS unterstützt eine breite Palette von Keithley-Geräten sowie die Keithley-Systeme S500 und S530. Dank der ausgezeichneten Prüf- und Analyseflexibilität und einer intuitiven Benutzeroberfläche können neue Benutzer fast sofort produktiv werden.

  • Intuitive Benutzeroberfläche zur Vereinfachung von Testplanentwicklung, Testdurchführung und Ergebnisanalyse
  • Entwickeln und Durchführen von Tests auf Komponenten-, Standort-, Wafer- und Kassettenebene.
  • Unterstützt eine breite Palette von Geräten und Systemkonfigurationen, einschließlich Multi-SMU-Systeme für Paralleltests
  • Vollständige Steuerung von halbautomatischen und vollautomatischen Probern
  • Interaktive Echtzeitdarstellung von Daten

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PREIS AB
€6,480 - €15,800
Listenpreis
€6,480
Beschreibung

ACS Basic Edition ist primär für die Prüfung von Halbleiterkomponenten mit manuellen Nadelmessplätzen oder -testvorrichtungen bestimmt. Führen Sie eine erste Bauelementcharakterisierung auf schnelle und interaktive Weise mit dem Trace-Modus durch. Oder erstellen Sie detaillierte Parameter-Extraktionstests mit dem benutzeroberflächenbasierten Setup-Bildschirm und umfangreichen Messbibliotheken.

Listenpreis
€15,800
Beschreibung

ACS unterstützt eine breite Palette von halbautomatischen und vollautomatischen Probern für Messungen an Halbleiterbauelementen über einen gesamten Wafer. Zum Testen einzelner Bauelemente kann der Prober auch interaktiv gesteuert werden. Überwachen Sie den Testfortschritt mit Ergebnissen für einzelne Bauelemente und Statistiken für mehrere Bauelemente während der Laufzeit.

Was ist ACS?

ACS ist eine leistungsstarke Software-Plattform für Ingenieure, die eine breite Palette von Tests zur detaillierten Charakterisierung von Halbleiterkomponenten durchführen. Verwenden Sie ACS zusammen mit dem breiten Angebot an branchenführenden SMU-Geräten und Systemen von Keithley. Automatisieren Sie das Testen auf Wafer- oder Kassettenebene, indem Sie automatische Prober mit Standard-ACS steuern. Für manuelle oder Einzelkomponenten-Tests verwenden Sie die ACS Basic Edition. Und für erweiterte Wafer-Level-Zuverlässigkeit (WLR) bei mehreren Prüflingen verwenden Sie Standard-ACS mit der Option ACS-2600-RTM. Außerdem finden sie nachfolgend weitere Informationen über verschiedene Anwendungen, Messhardware und ACS-Funktionen!

Komponentencharakterisierung

Erstellen und verwalten Sie eine Vielzahl von detaillierten Tests und Messergebnissen für diskrete Halbleiterkomponenten wie MOSFETs, bipolare Transistoren, Hochleistungs-IGBTs und mehr. Erkunden Sie die unterschiedlichen „Messfunktionen“ von Keithley und die dazugehörigen Beschreibungen, die unten aufgeführt sind.

Klicken Sie links auf eine Messfunktion, um ihre Beschreibung anzuzeigen

ACS-Software
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ACS unterstützt eine breite Palette von halbautomatischen und vollautomatischen Probern für Messungen an Halbleiterkomponenten über einen gesamten Wafer. Zum Testen einzelner Bauelemente kann der Prober auch interaktiv gesteuert werden. Überwachen Sie den Testfortschritt mit Ergebnissen für einzelne Bauelemente und Statistiken für mehrere Bauelemente während der Laufzeit.

ACS Basic Edition-Software

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ACS Basic Edition ist primär für die Prüfung von Halbleiterkomponenten mit manuellen Nadelmessplätzen oder -testvorrichtungen bestimmt. Führen Sie eine erste Komponentencharakterisierung auf schnelle und interaktive Weise mit dem Trace-Modus durch. Oder erstellen Sie detaillierte Parameter-Extraktionstests mit dem benutzeroberflächenbasierten Setup-Bildschirm und umfangreichen Messbibliotheken. ACS Basic führt schnell zu Echtzeitergebnissen für die Analyse in ACS Basic oder für den Export in andere Offline-Analysewerkzeuge.

System-SourceMeter®-SMU (Source Measure Unit)-Geräte der Serie 2600B
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SourceMeter-SMU-Geräte der Serie 2600B umfassen 2-Kanal-Einheiten, die optimal geeignet zum Testen von Halbleitern mit mehreren Anschlüssen sind, wie z. B. MOSFETs und BJTs. Und TSP-Link® von Keithley ermöglicht die koordinierte Steuerung und präzise zeitliche Koordinierung zwischen SMU-Geräten. Sie können unter einer Vielzahl von Modellen der Serie 2600 wählen, um bestimmte Spannungs- und Stromspezifikationen einzuhalten. Klicken Sie hier, um weitere Informationen zu erhalten.

Hochleistungs-System-SourceMeter-SMU (Source Measure Unit)-Geräte der Serie 2650A
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Hochleistungs-SourceMeter-SMU-Geräte der Serie 2650A können in zahlreichen Testkonfigurationen verwendet werden. Beschaffen und Messen kann im Bereich von 3 kV oder 50A Impuls bis zu 2.000 W Impuls oder 2.00 W DC erfolgen. Und die beste Niederstromfunktion in ihrer Klasse ermöglicht hervorragende Leckstrommessungen. Verwenden Sie TSP-Link® von Keithley für integrierte Systemkonfigurationen mit SourceMeter-SMU-Geräten der Serie 2600B mit niedrigerer Leistung. Klicken Sie hier, um weitere Informationen zu erhalten.

PCT-Konfigurationen

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Parametrische Kurvenverfolgungskonfigurationen von Keithley sind Komplettlösungen für die Charakterisierung von Leistungskomponenten, einschließlich Hochleistungsgeräte, Kabel, Testvorrichtungen und Software. Es sind sieben Konfigurationen verfügbar, von denen jede die beiden folgenden Modi enthält: den Echtzeit-Trace-Modus zur schnellen Überprüfung von grundlegenden Komponentenparametern, wie z. B. Durchbruchspannung, und den vollständig parametrischen Modus zum Extrahieren von präzisen Komponentenparametern.

Parameter-Analysator Modell 4200-SCS
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Die 200 V/1 A SMU- und 400 V C-V-Funktionen des Parameter-Analysator-Modells 4200-SCS sind optimal geeignet für die Charakterisierung von Halbleiterkomponenten. Konfigurieren Sie den 4200-SCS mit Hochleistungs-SourceMeter-SMU-Geräten der Serie 2650A für Tests bis zu 3kV oder 50 A. Zum Erstellen und Ausführen von Tests im Bereich dieser Keithley-Funktionen verwenden Sie die ACS Basic Edition-Software. Klicken Sie hier, um weitere Informationen zu erhalten.

Integrierte Testsysteme S500
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Erleben Sie die vollkommen schlüsselfertigen Lösungen von Keithley mit den integrierten Testsystemen S500. Diese flexibel konfigurierbaren Systeme können eine Vielzahl von Messfunktionen für Prüfstände in der Technologieentwicklung beinhalten. Oder nutzen Sie die Automatisierung von ACS mit S500-Systemen für mit automatischen Wafer-Probern durchgeführte Tests mit hohem Durchsatz und mehreren Geräten. Klicken Sie hier, um weitere Informationen zu erhalten.

 

Data SheetAccessoryDescription
ACS-2600-RTM OPTION FÜR ZUVERLÄSSIGKEITSTESTS (FÜR ACS)
TitleType
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor DevicesApplication Note
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to MarketBrochure
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel TestApplication Note
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation

Increasing time to market and cost of test pressures means that test engineers must do more with less. Leveraging Keithley’s proven instrumentation and measurements, ACS integrated test systems fill an important gap between interactive laboratory-based tools and high throughput production test tools.

Application Note
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU InstrumentsApplication Note
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)Whitepaper
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