Extrem niedrige Widerstandskonfigurationen von Keithley

Extrem niedrige Widerstandskonfigurationen von Keithley

Bei Verbindung miteinander können Modell 2182A und Modell 6220 bzw. 6221 wie ein einzelnes Gerät betrieben werden. Die Kombination 2182A/622X ist ideal geeignet für Widerstandsmessungen, gepulste I-V-Messungen sowie Messungen des differentiellen Leitwerts und bietet signifikante Vorteile gegenüber anderen Lösungen. Die Kombination 2182A/622X ist auch gut geeignet für viele Nanotechnologie-Anwendungen, da sie Widerstandsmessungen ermöglicht, ohne dass viel Strom in den Prüfling gelangt, denn dies könnte Ergebnisse entwerten oder sogar den Prüfling irreparabel beschädigen.

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Extrem niedrige Widerstandskonfigurationen Keithley-Serie 6200/2182A

Merkmale

Vorteile

Messen von Widerständen von 10 nΩ bis 100 MΩ Deckt einen extrem breiten Messbereich ab und ist besonders geeignet für Messungen extrem niedriger Widerstände zur Charakterisierung von hochleitfähigen Materialien, Nanomaterialien und supraleitfähigen Materialien.
Synchronisierte, stromgepulste Quelle und kurze Messzeiten von nur 50 µs Begrenzt Leistungsverluste in Komponenten, wie Nanogeräte und Nanomaterialien, die leicht irreparabel beschädigt werden können, wenn sie nicht bei sehr niedriger Leistung getestet werden.
Delta-Modus-Stromrichtungsumkehr, Widerstandsmessverfahren Genaue Messungen extrem niedriger Widerstände durch Eliminieren der Effekte thermischer Offsets und Reduzieren von Rauschen bis hinunter auf 30 nVSp-Sp (typisch) für eine Messung. Mehrere Messungen können gemittelt werden, um das Rauschen weiter zu reduzieren.
Messungen des differentiellen Leitwerts Bietet zehnmal schnellere Geschwindigkeiten und geringeres Rauschen als andere Verfahren zur Messung des differentiellen Leitwerts. Gute Messungen werden durchgeführt, ohne dass die Ergebnisse mehrerer Sweeps gemittelt werden müssen.
Nanovoltmeter und Stromquellenschnittstelle funktionieren nahtlos zusammen Für Messungen des differentiellen Leitwerts und Widerstandsmessungen können beide Geräte wie ein einzelnes Gerät betrieben werden.
Delta, differentieller Leitwert und Impulsmodi generieren kleinste Stromtransienten Ermöglicht die Charakterisierung von Geräten, bei denen durch Stromspitzen leicht Störungen auftreten können.


Modelle

Modell Spannung Widerstand Quelle PC-Schnittstelle Listenpreis
6220/2182A
1 nV bis 100 V
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA RS-232, GPIB
-

Konfiguration und Angebot

6221/2182A
1 nV bis 100 V
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA;

Wechselspannung: 4 pASp-Sp–200 mASp-Sp

RS-232, GPIB, LAN
-

Konfiguration und Angebot

SpannungWiderstandSpannung
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

1 nV bis 100 V

QuellePC-Schnittstelle
Gleichspannung: ±10 fA–100 mARS-232, GPIB
SpannungWiderstandSpannung
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

1 nV bis 100 V

QuellePC-Schnittstelle

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA;

Wechselspannung: 4 pASp-Sp–200 mASp-Sp

RS-232, GPIB, LAN

Modell Spannung Widerstand Quelle PC-Schnittstelle Listenpreis
6220/2182A 1 nV bis 100 V 1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA RS-232, GPIB
-
Konfiguration und Angebot
6221/2182A 1 nV bis 100 V 1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA;
Wechselspannung: 4 pASp-Sp–200 mASp-Sp

RS-232, GPIB, LAN
-
Konfiguration und Angebot
SpannungWiderstandSpannung
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

1 nV bis 100 V
QuellePC-Schnittstelle
Gleichspannung: ±10 fA–100 mARS-232, GPIB
SpannungWiderstandSpannung
1 nV bis 100 V

10 nΩ bis 100 MΩ

1 nV bis 100 V
QuellePC-Schnittstelle

Gleichspannung: ±10 fA–100 mA;
Wechselspannung: 4 pASp-Sp–200 mASp-Sp

RS-232, GPIB, LAN
DatenblattZubehörBeschreibung
7009-5 GESCHIRMTES RS-232-KABEL (5 FUß)
Characterization of New Materials and Devices Nanotechnology, Printed and Bio Electronics, and Energy
0h 34m 2s
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
White Paper 12 Mar 2016
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data…
Technical Article 11 Nov 2018
Keithley Instruments Safety Precautions Safety Precautions PA
This document contains safety information for Keithley Instruments products.
Teilenummer: 071341102
User
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Artikelnummer: 1KW-60158-1
Application Note 09 Nov 2018
Model 2182A Nanovoltmeter
Datenblatt
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
This application note explains how to measure resistivity and determine conductivity type of semiconductor materials with a four-point collinear probe and the 6221 DC and AC Current Source.
Application Note 08 Aug 2017
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
Nanotechnology is an important new area of research that promises significant advances in electronics, materials, biotechnology, alternative energy sources, and dozens of other applications.  The ability to create accurate and repeatable measurements at…
Technical Article 08 Aug 2017
Pulse Testing for Nanoscale Devices
Pulse testing provides a key capability for the investigation of nanomaterials, nanoelectronics, and today’s semiconducting devices.
Technical Article 08 Aug 2017
AC Versus DC Measurement Methods for Low-power Nanotech and Other Sensitive Devices
With modern current sources and nanovoltmeters, the DC reversal method requires less power while providing excellent low-noise results. This combination is optimal for low frequencies (0.1–24Hz,) allowing measurements to be made much faster than with a…
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Problem: Errors in Low Resistance Measurements
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Technical Article 08 Aug 2017
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Technical Article 08 Aug 2017
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
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Technical Article 08 Aug 2017
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
Thermoelectric voltages are the most common cause of reading drift in low resistance measurements. They are caused by differences in temperature between different parts of the measurement circuit
Technical Article 08 Aug 2017
An Improved Method for Differential Conductance Measurements
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Whitepaper 08 Aug 2017
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
Anyone involved in the design, manufacture, application. or repair of fuel cells or fuel cell-powered devices needs cell data that is available only through direct electrical measurements. When properly interpreted, this data not only provides an…
Technical Article 08 Aug 2017
Achieving Accurate and Reliable Resistance Measurements in Low Power and Low Voltage Applications
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Whitepaper 08 Aug 2017
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