Keithley-Elektrometer zur Messung von extrem hohen Widerständen/extrem niedrigen Strömen

Außergewöhnliche Messintegrität für zahlreiche Funktionen

Es stehen drei empfindliche Optionen für Präzisionsmessungen von hohen Widerständen und kleinen Strömen zur Wahl. Modell 6514 mit 5½-stelliger Genauigkeit und Modell 6517B Elektrometer bieten 1 fA Empfindlichkeit, >200 T Ω Eingangsimpedanz bei Spannungsmessungen sowie Ladungsmessungen bis hinunter auf 10 fC. Modell 6430 Sub-Femtoampere-Remote-SourceMeter-SMU misst Strom mit einer Empfindlichkeit von 1 aA. Durch sein niedriges Rauschen und Driftverhalten ist es ideal geeignet für Untersuchungen von einzelnen elektronischen Bauteilen, Nanodrähten und Nanoröhren mit hohem Widerstand, Polymeren sowie für elektrochemische Anwendungen.

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PREIS AB
€6,790 - €19,400
Listenpreis
€6,790
Stromstärke
Spannung
Widerstand
Spannung
Ladung
Quelle

100 aA bis 20 mA

10 µV bis 200 V

10 mΩ bis 200 GΩ

10 µV bis 200 V

10 fC bis 20 μC

Listenpreis
€8,690
Stromstärke
Spannung
Widerstand
Spannung
Ladung
Quelle

100 aA bis 20 mA

10 µV bis 200 V

100 Ω bis 10 PΩ

10 µV bis 200 V

10 fC bis 2 μC

0 bis ±1.000 V

Listenpreis
€19,400
Stromstärke
Spannung
Widerstand
Spannung
Quelle

100 aA bis 100 mA

1 µV bis 200 V

1 µΩ bis >20 TΩ

1 µV bis 200 V

0 bis ±200 V
0 bis ±100 mA

Merkmale

Vorteile

Extrem niedriges Rauschen (0,4 fASp-Sp für 6430, <1 fA für 6517B und 6514) Gewährleistet genauere Messungen der extrem niedrigen Ströme, wie sie in der Geräte- und Materialforschung weit verbreitet sind.
Widerstandsmessungen bis zu 1016Ω (6517B) Genaue Messung des Widerstands bei Materialien und Isolatoren mit hohem Widerstand.
Remote-Vorverstärker kann an der Signalquelle lokalisiert werden (6430) Ermöglicht eine direkte oder sehr kurze Verbindung zur Signalquelle und minimiert Rauschquellen, wie z. B. Kabelrauschen.
Niedrige Bürdenspannung Eliminiert Fehler mit Auswirkungen auf die Genauigkeit von Niederstrommessungen.
Integrierte ±1 kV Spannungsquelle mit Sweep-Funktion (6517B) Vereinfacht die Durchführung von Leckstrom-, Durchbruch- und Widerstandstests sowie von Messungen des spezifischen Volumenwiderstands (Ω-cm) und des Oberflächenwiderstands (Ω/Quadrat) bei Materialien mit hohem Widerstand.
Optionales Modell 8009 Widerstandskammer für Messungen des Volumen- und Oberflächenwiderstands von Probenmaterialien (6517B) Schützt vor Kontakt mit potentiell gefährlichen Spannungen – beim Öffnen der Abdeckung der Kammer wird die Spannungsquelle des Geräts automatisch ausgeschaltet.
Hohe Messgeschwindigkeiten, auch bei Signalen mit niedrigem Pegel Ermöglicht schnellere Tests von Low-Level-Komponenten.
Programmierbare digitale E/A und integrierte Schnittstellen Ermöglicht den Aufbau von automatischen Komponentensystemen.
Data SheetAccessoryDescription
1681 PRÜFLEITUNGEN MIT BEFESTIGUNGSCLIP
2000-BENCHKIT LABORKONVERTIERUNGSSATZ FÜR MEHRERE MODELLE
237-ALG-15 RAUSCHARMES TRIAX-KABEL 15 M
237-ALG-2 RAUSCHARMES TRIAX-KABEL
237-BNC-TRX 2-STECKPLÄTZE M BNC AUF 3 ANSCHLUSSKLEMMEN F TRIAX
237-TRX-NG TRIAX 3S M/3L F GRD DISC
4288-1 GESTELLEINBAUSATZ MIT EINFACHBEFESTIGUNG
4288-2 GESTELLEINBAUSATZ MIT ZWEIFACHBEFESTIGUNG
4288-5 GESTELLSATZ
4804 MALE BNC TO FEMALE TRIAX ADAPT
6517-ILC-3 INTERLOCK CABLE, 4 PIN
6517-TP TEMPERATURE PROBE
6521. SCANNERKARTE
7009-5 GESCHIRMTES RS-232-KABEL (5 FUß)
8009 VORRICHTUNG ZUM TESTEN DES SPEZIFISCHEN WIDERSTANDS
8607 1 KV QUELLEN-BANANEN-KABEL
TitleType
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications

This Application Note discusses electrochemistry disciplines in which Keithley instrumentation is used.

Application Note
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure InstrumentsFact Sheet
Maximize Speed and Throughput for Semiconductor MeasurementsPoster
Model 6430 Sub-Femtoamp Remote SourceMeter SpecificationsSpecification
Model 6514 Electrometer SpecificationsSpecification
Model 6517B SpecificationsSpecification
Your Guide to Creating High Performance Switching ApplicationsFact Sheet
New Materials and Devices E-GuideBrochure
Maximize Speed and Throughput for Semiconductor Measurements Using Source Measure Units (SMUs)Poster
#1138 Switching in Multipoint TestingApplication Note
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