Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

KOSTENLOS auf Ihrem PC testen .

Product-series_4200-promo-options

DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA bis 1 A
0,2 µV bis 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz – 10 MHz
± 30 V DC Bias

Gepulster I-U
-Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

 

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

Vorderansicht des 4200A-SCS und 4200A-CVIV bei der Durchführung eines CV-Sweep

Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS vereinfacht Charakterisierung und Testeinrichtung um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Integrierte Messvideos auf Englisch, Chinesisch, Japanisch und Koreanisch
  • Einfacher Testeinstieg mit hunderten von Anwendungstests, die vom Benutzer angepasst werden können
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, arithmetische Funktionen

Messen. Umschalten. Wiederholen

Keithley 4200A-CVIV Mehrfachschalter an einem Wafer-Messplatz

Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Stabile Niederstrommessungen für die I-U-Charakterisierung

Mit den Modulen 4201-SMU und 4211-SMU können Sie stabile Niederstrommessungen in einem System mit hoher Kapazität erzielen. Der 4200A-SCS kann mit vier verfügbaren Modellen von Source Measure Units (SMU) an alle Ihre I-U-Messanforderungen angepasst werden. Keithley bietet vor Ort installierbare Einheiten und optionale Vorverstärkermodule und stellt so sicher, dass Sie die genauesten Niederstrommessungen ohne Ausfallzeiten durchführen können.

Highlights

  • Fügen Sie eine SMU hinzu, ohne das Gerät an das Werk zurückzusenden
  • Messungen im Femtoampere-Bereich
  • Bis zu 9 SMU-Kanäle
  • Optimiert für lange Kabel oder große Spannfutter

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS vor dem Wafer-Messplatz

Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

Verringern Sie Kosten und schützen Sie Ihre Investitionen

Schützen Sie Ihre Investition mit einem Keithley Care-Plan

Keithley-Servicepläne bieten schnellen, qualitativ hochwertigen Service zu einen Bruchteil der Kosten, verglichen mit einer Reparatur ohne Serviceplan. Ein Mausklick oder ein Anruf genügt, um die Abdeckung von Reparaturkosten zu erhalten – kein Zeitverlust durch die Erstellung von Angeboten, Bestellungen oder Auftragsbestätigungen.

Weitere Informationen

 

Datenblatt Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK1
Hohe Auflösung bei I-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung
Zur Charakterisierung von Bauelementen mit zwei und drei Anschlüssen sowie zur MOSFET- und CMOS-Charakterisierung Paket mit 4200A-SCS-PK1 enthält:
  • Parameteranalysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU Modul
  • (1) 4200-PA Vorverstärker
  • (1) 8101-PIV Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK2
Hohe Auflösung bei I-U und C-U
210 V / 100 mA, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
Zur Charakterisierung von CMOS-Bauelementen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket mit 4200A-SCS-PK2 enthält:
  • Parameteranalysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU Modul
  • (1) 4200-PA Vorverstärker
  • (1) 4210-CVU Kapazitätsspannungsmodul
  • (1) 8101-PIV Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK3
Hohe Auflösung und Leistung bei I-U und C-U
210 V / 1 A, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
Zur Charakterisierung von CMOS-Leistungsbauelementen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket mit 4200A-SCS-PK3 enthält:
  • Parameteranalysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU Modul
  • (2) 4210-SMU
  • (2) 4200-PA-Vorverstärker
  • (1) 4210-CVU Kapazitätsspannungsmodul
  • (1) 8101-PIV Testvorrichtung mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket mit 4200-BTI-A enthält:
  • (1) 4225-PMU Ultraschnelles I-V-Modul
  • (2) 4225-RPM Remote-Vorverstärker/Switch-Module
  • ACS (Automatische Charakterisierungs-Suite)-Software
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot anfordern

Zuverlässigkeit der Halbleiter

Zuverlässigkeitstests wurden mit dem Impulsmodul 4225-PMU durchgeführt

Komplexe Zuverlässigkeitstests durchführen, während der 4200A-SCS die komplexen Herausforderungen übernimmt. Enthaltene Projekte wie Hot Carrier Injection Degradation (HCI) und Negative Bias Temperature Instability (NBTI) ermöglichen einen schnellen Einstieg in die Geräteanalyse. Für größere Labors umfasst das 4200-BTI-Paket Site-Mapping und automatische Tastkopf-Steuerung mit der ACS-Software von Keithley.

Highlights

  • Kombinieren Sie DC I-V-, C-V- und Impulsmessungen in einer Testreihe
  • Inklusive Unterstützung vieler Sondenstationen und externer Instrumente
  • Einfach zu bedienendes Zyklussystem für wiederhote Messungen ohne Programmierung

C-V-Messung für Anwendungen mit hoher Impedanz

Sehr niederfrequenter C-U-Sweep auf einem MOSCAP-Gerät

Verwenden Sie die benutzerdefinierte Längstwellen-C-V-Methode von Keithley, um die Kapazität Ihrer Abtastung mit hohem Widerstand zu analysieren. Die Methode wird nur mit SMU-Geräten angewendet, kann jedoch mit einem 4210-CVU kombiniert werden, um Messungen höherer Frequenzen vorzunehmen.

Highlights

  • 0,01-10 Hz Frequenzbereich bei einer Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
  • 3,5-Stellen-Digitalauflösung, Mindestregelwert von 10 fF

Nichtflüchtiger Speicher

PUND-Speichertestsequenz wurde mit dem Impulsmodul 4225-PMU durchgeführt

Prüfen Sie Ihre neuen Technologien mit der gründlichen I-V-Pulscharakterisierung. Die 4200A-SCS umfasst die Unterstützung und Bereitschaftstests für die neuesten NVRAM-Technologien von Floating-Gate-Flash bis ReRAM und FeRAM. Dualquellen- und Messfunktionen in Bereich Strom und Spannung ermöglichen die Charakterisierung von Transienten- und I-V-Domänen.

Prüfung bei Verwendung von langen Kabeln oder kapazitiven Vorrichtungen

Vg-Id-Tests wurden mit dem Modul 4201-SMU durchgeführt

Verwenden Sie 4201- oder 4211-SMUs, wenn Sie Tests durchführen, die sehr lange Kabel oder Vorrichtungen mit höheren Kapazitäten erfordern. Diese SMUs sind ideal für den Anschluss von LCD-Teststationen, Tastköpfen, Schaltmatrizen oder anderen großen oder komplizierten Testgeräten. Mit vor Ort installierbaren Versionen können Sie die Kapazität erhöhen, ohne das Gerät an ein Servicecenter zurücksenden zu müssen.

Charakterisierung von Geräten auf Nanoebene

Carbon Nanotube FET Kurvenfamilie

Die Funktionen der integrierten Geräte des 4200A-SCS vereinfachen die Messanforderungen bei der Entwicklung von Elektronik auf Nanoebene, wie z  B. Kohlenstoff-Nanoröhrchen. Beginnen Sie mit Ihren Untersuchungen mit dem vorkonfigurierten Testprojekt und erweitern Sie Ihre Arbeiten von dort aus. Ein Impuls-Quellenmodus für SMUs hilft dabei, Überhitzungsprobleme zu verringern und kann in wenigen Sekunden mit einem Niederspannungs-C-V und ultraschnellen Impuls-Gleichstrommessungen kombiniert werden.

Widerstandsfähigkeit der Materialien

Widerstandsmessungen für die Materialwissenschaft wurden mit einem kolinearen Vierpunkttastkopf durchgeführt

Verwenden Sie eine 4200A-SCS mit integrierten SMUs, um die Widerstandsfähigkeit mit einer kollinearen Vierpunkt-Messung oder der van-der-Pauw-Methode zu messen. Die enthaltenen Tests führen automatisch wiederholte van-der-Pauw-Berechnungen durch, sodass Sie wertvolle Forschungszeit sparen. Dank der maximalen Stromauflösung von 10 aA und einer Eingangsimpedanz von 10­­­­16 Ohm erhalten Sie genauere und präzisere Ergebnisse.

MOSFET-Charakterisierung

MOSFET-Schwellenwertspannungsmessung mit einem 4200A-SCS Parameter-Analysator

Die 4200A-SCS kann alle zur vollständigen Charakterisierung von MOS-Geräten erforderlichen Geräte für Komponenten- oder Waferprüfungen umfassen. Enthaltene Prüfungen und Projekte lösen die Oxiddicke von MOSCap, Schwellenspannungen, Dotierstoffkonzentration, mobile Ionenkonzentration und vieles mehr. All dieses Tests können mit einem einzelnen Tastendruck über ein einzelnes Gerätegehäuse durchgeführt werden.

Datenblatt Modul Beschreibung Konfiguration und Angebot
4200A-CVIV I-U/C-U-MEHRFACHSCHALTMODUL Konfiguration und Angebot
4201-SMU Source Measure Unit mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten Konfiguration und Angebot
4211-SMU Source Measure Unit mit hoher Leistung für hohe Kapazitäten Konfiguration und Angebot
4201-SMU-R Vor Ort installierbare SMU mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten Konfiguration und Angebot
4211-SMU-R Vor Ort installierbare SMU mit hoher Leistung für hohe Kapazitäten Konfiguration und Angebot
4200-SMU MITTELLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4210-SMU HOCHLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4200-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE MPSMU Konfiguration und Angebot
4210-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE HPSMU Konfiguration und Angebot
4200-PA REMOTE-VORVERSTÄRKER-MODUL Konfiguration und Angebot
4210-CVU KAPAZITÄT-SPANNUNGSEINHEIT Konfiguration und Angebot
4220-PGU HOCHSPANNUNGSIMPULSGENERATOR Konfiguration und Angebot
4225-PMU ULTRASCHNELLES IMPULSMESSGERÄT Konfiguration und Angebot
4225-RPM REMOTE-VORVERSTÄRKER-/SCHALTERMODUL Konfiguration und Angebot
4200-BTI-A ULTRASCHNELLES BTI-PKT Konfiguration und Angebot
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius, KCon, KPulse, KULT, and KXCI software. LPT library descriptions are also provide. 


Teilenummer 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Hauptbenutzer
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.


Teilenummer 077132609
Versionshinweise
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.


Teilenummer 077132608
Versionshinweise
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
User's manual for the 4200A CV-IV multi-switch.

The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.


Teilenummer 4200A-CVIV-900-01D
Hauptbenutzer
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius, KCon, KPulse, KULT, and KXCI software. LPT library descriptions are also provided.


Teilenummer 4200A-901-01F
Hauptbenutzer
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-SCS User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information. User Manual

This User's Manual includes specific applications to help you get started quickly.
Teilenummer 4200A-900-01C
Hauptbenutzer
Gate Dielectric Capacitance-Voltage Characterization Using the Model 4200
Introduction Maintaining the quality and reliability of gate oxides is one of the most critical and challenging tasks in any semiconductor fab. With feature sizes shrinking to 0.18µm or less, gate oxides are often less than 30Å …

Literaturnummer #2239
Anwendungshinweis
Measuring Inductance Using the 4200-CVU Capacitance-Voltage Unit
Anwendungshinweis
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.

Literaturnummer 1KW-61388-0
Anwendungshinweis
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ-ID249356
What is the time required to switch between Pulse IV (4225PMU) and CV (4210ACVU) measurements using the 4225-RPM for the 4200A-SCS?
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below …
FAQ-ID469646
Is there a resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS?
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek …
FAQ-ID248681
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the …
FAQ-ID780921
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only …
FAQ-ID255351
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will …
FAQ-ID780926
I have lost the device library on the 4200A-SCS, how to get it back?
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
FAQ-ID247546
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literaturnummer 1KW-60780-5
Datasheet
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.


Teilenummer 071348701
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup. Instruction Manual

This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup.
Teilenummer PA-1001D
Benutzer
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
Release notes and installation instructions for KTE Interactive software for the 4200. Release Notes

This document provides supplemental information regarding KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 (SP2). This information includes detailed instructions describing how to install this service pack and and summary of fixes and enhancements included in KTE Interactive V9.1 Service Pack 2.
Teilenummer PA-895R
Versionshinweise
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions Instructions

If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Teilenummer 077134300
Geheimhaltungsaufhebung
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions Instructions

If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200A-SCS Parameter Analyzer's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Teilenummer 077126200
Geheimhaltungsaufhebung
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
Warnings from the QSGs, User's Manual and Reference Manual translated into French for the 4200A-SCS Other

List of documentation warnings for the Canadian market that are in both English and French.
Teilenummer 077126000
Benutzer
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide Quick Start User Manual

Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Teilenummer 4200A-903-01A
Hauptbenutzer
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK3 provides unpacking and basic connection information. It also provides step-by-step examples to allow you to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Teilenummer 4200A-PK3-903-01A
Hauptbenutzer
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Teilenummer 4200A-PK2-903-01A
Hauptbenutzer
Model 4200-Compiler Installation Instructions
4200-Compiler installation instructions for the 4200A-SCS and 4200-SCS Instructions

Installation instructions for the Model 4200-Compiler, a compiler that you can use to create user modules for the 4200A-SCS Parameter Analyzer and the 4200-SCS.
Teilenummer PA-1030E
Kombinierter Benutzer/Service
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …

Teilenummer 4200A-CLARIUS-V1.7
Anwendungsgebiet
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …

Teilenummer 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Anwendungsgebiet
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a …

Teilenummer 4200A-CLARIUS-V1.5
Anwendungsgebiet
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3
The 4200A-SCS Clarius+ Software Suite provides a clear, uncompromised parameter analysis for your semiconductor devices, materials, processes and more. Download the latest version of Clarius+ to stay up-to-date with the ever-growning library of ready …

Teilenummer 4200A-CLARIUS-V1.3
Anwendungsgebiet
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2
4200-SCS KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 includes all changes from KTEI V9.1 Service Pack 1, plus additional enhancements and fixes for known bugs. This service pack is to be installed on top of either KTEI V9.1 or V9.1 Service Pack 1 software on …

Teilenummer 4200-KTEI-V9.1SP2
Anwendungsgebiet
Probing Transistors at the Contact Level in Integrated Circuits
Anwendungshinweis
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
Datenblatt
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies

Literaturnummer 1KW-60638-0
Anwendungshinweis
Pulsed I-V Testing for Components and Semiconductor Devices - Applications Guide
Anwendungshinweis
Pulse Testing for Nanoscale Devices
Technischer Artikel
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Anwendungshinweis
Writing Prober Drivers for the Model 4200-SCS

Literaturnummer Job #2361. Updated 01/07
Anwendungshinweis
Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Evolving design scales and new materials are making wafer level reliability testing more critical than ever. This is also driving the demand for reliability testing and modeling much further upstream, especially into the R&D process …

Literaturnummer 1KW-61526-0
Anwendungshinweis
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.

Literaturnummer 1KW-60641-1
Anwendungshinweis
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as …
Poster
C-V Characterization of MOS Capacitors Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Creating External Instruments Drivers for the Model 4200-SCS

Literaturnummer technical note #2661
Anwendungshinweis
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60645-0
Anwendungshinweis
C-V Testing for Semiconductor Components and Devices - Applications Guide
Anwendungshinweis
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60635-0
Anwendungshinweis
I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator

Literaturnummer Job #2481
Anwendungshinweis
Keithley Pulse Solutions
Broschüre
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
Broschüre
DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices
DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer …
Anwendungshinweis
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for …

Literaturnummer 1KZ-61313-0
Anwendungshinweis
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
Datenblatt
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60636-0
Anwendungshinweis
KTEI V8.2 for the Model 4200-SCS: Characterize NVM, Measure VLF C-V, Make More Pulsed or Ultra-fast I-V Measurements in Parallel
Broschüre
Improving the Measurement Speed and Overall Test Time of the Model 4200-SCS
Anwendungshinweis
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Using the Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Using the 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60637-0
Anwendungshinweis
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.

Literaturnummer 1KW-61356-0
Anwendungshinweis
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60639-0
Anwendungshinweis
Using the Wafer Map Parameters Option with Cascade Nucleus Prober Software and the Model 4200-SCS

Literaturnummer Job number 2657.
Anwendungshinweis
Using the Model 4225-RPM Remote Amplifier/ Switch to Automate Switching Between DC I-V, C-V, and Pulsed I-V Measurements

Literaturnummer 1KW-60628-0
Anwendungshinweis
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).

Literaturnummer 1KW-60634-0
Anwendungshinweis
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60644-0
Anwendungshinweis
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the Mode 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
Technischer Artikel
Performing Charge Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency …

Literaturnummer 75W-61556-0
Technisches Informationsblatt
Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices
Application Note # 2197 Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices With decreased MOSFET gate length, hot carrier induced degradation has become one of the most important reliability concerns.
Anwendungshinweis
Evaluating Oxide Reliability
Application Note Number 2240 Evaluating Oxide Reliability Using V-Ramp and J-Ramp Techniques Oxide integrity is an important reliability concern, especially for today's ULSI MOSFET devices, where oxide thickness has been scaled to a few atomic layers …
Anwendungshinweis
Safely Using the Interlock on the Keithley Model 4200-SCS
Anwendungshinweis
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

Literaturnummer 55W_30503_2
Broschüre
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement

Literaturnummer 1KW-60643-0
Anwendungshinweis
Ultra Fast Single Pulse Technique for Channel Effective Mobility Measurement
Anwendungshinweis
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process …

Literaturnummer 1KW-60873-1
Datenblatt
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60633-0
Anwendungshinweis
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Literaturnummer 1KW-60642-0
Anwendungshinweis
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Monitoring Channel Hot Carrier (CHC) Degradation of MOSFET Devices using Keithley's Model 4200-SCS

Literaturnummer Print job #2535
Anwendungshinweis
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the …

Literaturnummer 1KW-60780-1
Broschüre
1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Ultra-fast (<10 ns) pulsing is required to develop the newest non-volatile memory types like Flash, PCRAM, STT-RAM and others. In addition to the recommended minimum and allowable minimum pulse widths possible using the Keithley 4225-PMU Ultra-Fast I …

Literaturnummer 1KW-61454-1
Technisches Informationsblatt
Moving from Windows XP to Windows 7? Upgrade Your Model 4200-SCS
Schritt-für-Schritt-Anleitung
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the …

Literaturnummer 1KW-61609-0
Anwendungshinweis
Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4210-CVU Capacitance Voltage Unit
Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications.  This application note describes how to make optimal capacitance measurements using proper measurement …

Literaturnummer 1KW-61528-0
Anwendungshinweis
Making Low Current Pulse I-V Measurements
This application note defines ultra-fast I-V, explains the fundamental limits of current measurements as a function of time and measure window, and describes the techniques for making ultra-fast I-V low current measurements.

Literaturnummer 1KW-61527-0
Anwendungshinweis
Making Three-Terminal Capacitance-Voltage Measurements Up to 400 V
This application note explains how the CISS, COSS and CRSS measurements are made using the bias tee capabilities in the 4200A-CVIV Multi-Switch. This application note also shows how the instrument DC output voltage was doubled from 200 V to 400 V for …

Literaturnummer 1KW-61529-0
Anwendungshinweis
Making Charge-Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System and Series 3400 Pulse/Pattern Generator

Literaturnummer Job #2851
Anwendungshinweis
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

Literaturnummer 1KW-60826-0
Anwendungshinweis
Ultra-Fast I-V Applications for the Model 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
Anwendungshinweis
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Full color brochure covering the semiconductor characterization system, Model 4200-scs.
Broschüre
Model 4200-SCS & KTEI 5.0 Software Extend Semi Characterization to Stress-Measure, Reliability Test
Cleveland, Ohio - December 11, 2003 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) today announced availability of its Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System with its integral Keithley Test Environment-Interactive (KTEI) v5.0 software.
Pressemitteilungen
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
Anwendungshinweis
Breathe New Life into Your 4200-SCS Parameter Analyzer
Datenblatt
Optimizing Low Current Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS

Literaturnummer Rev 7.15.11 ah
Anwendungshinweis
Integral PC Design of Keithley Model 4200-SCS is at the Leading Edge of a New Instrumentation Trend
Technischer Artikel
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve …

Literaturnummer 1KW-60158-1
Anwendungshinweis
DC Electrical Characterization of RF Power Transistors
Anwendungshinweis
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
Anwendungshinweis
A Local Area Network Laboratory Based on the Keithley 4200-SCS for Engineering Education in Microelectronics
White Paper
METHODS AND TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

Literaturnummer 1KW-60825-0
Anwendungshinweis
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS Semiconductor Characteriztion System Parametric characterization of semiconductor devices typically requires making extremely low current measurements. For MOSFET devices, the …

Literaturnummer Application Note Number 2241
Anwendungshinweis
Making I-V and C-V Measurements on Solar/Photovoltaic Cells Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Anwendungshinweis
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

Literaturnummer 1KW-1559-0
Handbuch
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
Datenblatt
Resistivity Measurements of Semiconductor Materials Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer and a Four-Point Collinear Probe

Literaturnummer 1KW-60640-0
Anwendungshinweis
Keithley PreAmp Adapter Installation

Keithley PreAmp Adapter Installation Model 4200-TMB Triaxial Mounting Bracket instructions


Teilenummer PA-633A
Benutzer
Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM

Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM Probe Station Mounting Base Installation Instructions
Teilenummer PA-624C
Benutzer
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

Literaturnummer 1KW-60826-0
Anwendungshinweis
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
5m 31s
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run …
27m 27s
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
32m 53s
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
26m 47s
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory …
41m 41s
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain …
1m 37s