DE
Aktueller Standort
×
DE

Wählen Sie Region, um Ihr Erlebnis anzupassen:

Menü umschalten
DE
Aktueller Standort
×
DE

Wählen Sie Region, um Ihr Erlebnis anzupassen:

Kontaktaufnahme

Live-Chat mit Tektronix-Vertretern. Verfügbar von 09:00 - 17:00 Uhr CET.

Anrufen

Kontaktieren Sie uns telefonisch unter

Verfügbar von 9:00 bis 17:00 Uhr CET Geschäftstage

Download

Laden Sie Handbücher, Datenblätter, Software und vieles mehr herunter:

DOWNLOADTYP
MODELL ODER SCHLÜSSELWORT

Automating High and Low Frequency C-V Measurements and Interface Trap Density (DIT) Calculations of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer


This application note discusses how to use the 4200A-SCS Parameter Analyzer to measure and to automatically switch between high and low frequency C-V measurements on MOS capacitors. Basic information on MOS capacitors and common parameter extractions is also discussed.