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Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS
Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.
KOSTENLOS auf Ihrem PC testen .
(I-U)-Bereich
10 aA bis 1 A
0,2 µV bis 210 V
(C-U)-Bereich
1 kHz – 10 MHz
± 30 V DC Bias
-Bereich
±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse
Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS verkürzt die Dauer von der Einrichtung bis zur Durchführung des Tests um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.
Highlights
- Fortschrittliche Mess-Hardware für DC I-V, C-U und i-U-Impulsmessungen
- Starten Sie umgehend Ihre Messungen mit Hunderten benutzerdefinierbaren Anwendungstests, die in der Clarius-Software enthalten sind
- Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, Analysefunktionen
Genaue C-V-Charakterisierung
Messen Sie einstellige Femtofarade mit Keithleys neuester Kapazitätsspannungseinheit (CVU), der 4215-CVU. Durch die Integration der 1 V AC-Quelle in Keithleys branchenführende CVU-Architektur bietet die 4215-CVU Kapazitätsmessungen mit geringem Rauschen im Frequenzbereich von 1 kHz bis 10 MHz.
Highlights
- Erster C-U-Messgerät seiner Klasse, das eine Versorgungsspannung von 1 V AC bewältigen kann
- 1 kHz-Frequenzauflösung von 1 kHz bis 10 MHz
- Messen Sie Kapazität, Leitwert und Eintritt
- Messen Sie mit dem 4200A-CVIV Multiswitch auf bis zu 4 Kanälen
Femtofarad-Kapazitätsmessungen (1e-15F) mit dem 4215-CVU durchführen
Messen. Umschalten. Wiederholen
Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.
Highlights
- C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
- Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
- Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
- Teststatus in Echtzeit anzeigen
Stabile Niederstrommessungen für die I-U-Charakterisierung
Mit den Modulen 4201-SMU und 4211-SMU können Sie stabile Niederstrommessungen in einem System mit hoher Kapazität erzielen. Der 4200A-SCS kann mit vier verfügbaren Modellen von Source Measure Units (SMU) an alle Ihre I-U-Messanforderungen angepasst werden. Keithley bietet vor Ort installierbare Einheiten und optionale Vorverstärkermodule und stellt so sicher, dass Sie die genauesten Niederstrommessungen ohne Ausfallzeiten durchführen können.
Stabile Niederstrommessungen mit hoher Testverbindungskapazität mit dem 4201-SMU und dem 4211-SMU
Highlights
- Fügen Sie eine SMU hinzu, ohne das Gerät an das Werk zurückzusenden
- Messungen im Femtoampere-Bereich
- Bis zu 9 SMU-Kanäle
- Optimiert für lange Kabel oder große Spannfutter
Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern
Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter MPI, Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336.
Highlights
- Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
- „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
- Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen
Verringern Sie Kosten und schützen Sie Ihre Investitionen
Keithley-Servicepläne bieten schnellen, qualitativ hochwertigen Service zu einen Bruchteil der Kosten, verglichen mit einer Reparatur ohne Serviceplan. Ein Mausklick oder ein Anruf genügt, um die Abdeckung von Reparaturkosten zu erhalten – kein Zeitverlust durch die Erstellung von Angeboten, Bestellungen oder Auftragsbestätigungen.
| Datenblatt | Modell | Beschreibung | Verkaufspreis |
|---|---|---|---|
| Datenblatt ansehen | 4200A-SCS-PKA Hohe Auflösung bei I-U |
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe 4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten 4200-PA: Ein Vorverstärker 8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten |
Angebot anfordern |
| Datenblatt ansehen | 4200A-SCS-PKB Hohe Auflösung bei I-U und C-U |
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe 4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten 4200-PA: Ein Vorverstärker 4215-CVU: Ein hochauflösendes C-U-Messgerät mit mehreren Frequenzen 8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten |
Angebot anfordern |
| Datenblatt ansehen | 4200A-SCS-PKC Hohe Leistung bei I-U und C-U |
4200A-SCS: Parameter-Analysator-Mainframe 4201-SMU: Zwei Source Measurement Units mit mittlerer Leistung für hohe Kapazitäten 4211-SMU: Zwei Source Measurement Units mit hoher für hohe Kapazitäten 4200-PA: Zwei Vorverstärker 4215-CVU: Ein hochauflösendes C-U-Messgerät mit mehreren Frequenzen 8101-PIV: Eine Testvorrichtung mit Mustergeräten |
Angebot anfordern |
| Datenblatt ansehen | 4200-BTI-A Ultraschnelles NBTI/PBTI |
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket mit 4200-BTI-A enthält:
|
Angebot anfordern |
Femtofarad-Kapazitätsmessungen
Kapazitäten unter Femtofarad mit dem 4215-CVU-Modul. Durch Ansteuern von 1 V AC kann die 4215-CVU bei der Messung eines 1 fF-Kondensators einen Rauschpegel von nur sechs Attofarad erreichen. Dies ist nur eine von Dutzenden Anwendungen der Clarius-Software zur Kapazitätsmessung und Extrahierung wichtiger Parameter.
Femtofarad-Kapazitätsmessungen (1e-15F) mit dem 4215-CVU durchführen
Optimale Kapazitäts- und AC-Impedanzmessungen durchführen
Highlights
- Integrierte Funktion für Femtofarad-Messungen
- 10.000 Frequenzschritte von 1 kHz bis 10 MHz
- Beliebige Tests für ein beliebiges Gerät mithilfe von Benutzerbibliotheken individuell einrichten
Zuverlässigkeit von Halbleiter und NVM
Prüfen Sie Ihre neuen Technologien mit der gründlichen I-V-Pulscharakterisierung. Die 4200A-SCS umfasst die Unterstützung und Bereitschaftstests für die neuesten NVRAM-Technologien von Floating-Gate-Flash bis ReRAM und FeRAM. Dualquellen- und Messfunktionen in Bereich Strom und Spannung ermöglichen die Charakterisierung von Transienten- und I-V-Domänen.
Auswertung der Heißträger-induzierten Zersetzung von MOSFET-Geräten
Single Nanosecond Pulsing Lösungen für das Testen nichtflüchtiger Speicher
Impuls-I-V-Charakterisierung nicht flüchtigen Speichertechnologien
C-V-Messung für Anwendungen mit hoher Impedanz
Verwenden Sie die benutzerdefinierte Längstwellen-C-V-Methode von Keithley, um die Kapazität Ihrer Abtastung mit hohem Widerstand zu analysieren. Die Methode wird nur mit SMU-Geräten angewendet, kann jedoch mit einem 4210-CVU kombiniert werden, um Messungen höherer Frequenzen vorzunehmen.
Tipps und Methoden zur Vereinfachung der Charakterisierung von MOSFET-/MOSCAP-Bauelementen
Highlights
- 0,01-10 Hz Frequenzbereich bei einer Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
- 3,5-Stellen-Digitalauflösung, Mindestregelwert von 10 fF
Prüfung bei Verwendung von langen Kabeln oder kapazitiven Vorrichtungen
Verwenden Sie 4201- oder 4211-SMUs, wenn Sie Tests durchführen, die sehr lange Kabel oder Vorrichtungen mit höheren Kapazitäten erfordern. Diese SMUs sind ideal für den Anschluss von LCD-Teststationen, Tastköpfen, Schaltmatrizen oder anderen großen oder komplizierten Testgeräten. Mit vor Ort installierbaren Versionen können Sie die Kapazität erhöhen, ohne das Gerät an ein Servicecenter zurücksenden zu müssen.
Charakterisierung von Geräten auf Nanoebene
Die Funktionen der integrierten Geräte des 4200A-SCS vereinfachen die Messanforderungen bei der Entwicklung von Elektronik auf Nanoebene, wie z B. Kohlenstoff-Nanoröhrchen. Beginnen Sie mit Ihren Untersuchungen mit dem vorkonfigurierten Testprojekt und erweitern Sie Ihre Arbeiten von dort aus. Ein Impuls-Quellenmodus für SMUs hilft dabei, Überhitzungsprobleme zu verringern und kann in wenigen Sekunden mit einem Niederspannungs-C-V und ultraschnellen Impuls-Gleichstrommessungen kombiniert werden.
Elektrische Charakterisierung von Kohlenstoff-Nanoröhrchen-Transistoren (CNT FETs)
Widerstandsfähigkeit der Materialien
Verwenden Sie eine 4200A-SCS mit integrierten SMUs, um die Widerstandsfähigkeit mit einer kollinearen Vierpunkt-Messung oder der van-der-Pauw-Methode zu messen. Die enthaltenen Tests führen automatisch wiederholte van-der-Pauw-Berechnungen durch, sodass Sie wertvolle Forschungszeit sparen. Dank der maximalen Stromauflösung von 10 aA und einer Eingangsimpedanz von 1016 Ohm erhalten Sie genauere und präzisere Ergebnisse.
van-der-Pauw- und Hall-Spannungsmessungen mit dem 4200A-SCS Parameteranalysator
MOSFET-Charakterisierung
Die 4200A-SCS kann alle zur vollständigen Charakterisierung von MOS-Geräten erforderlichen Geräte für Komponenten- oder Waferprüfungen umfassen. Enthaltene Prüfungen und Projekte lösen die Oxiddicke von MOSCap, Schwellenspannungen, Dotierstoffkonzentration, mobile Ionenkonzentration und vieles mehr. All dieses Tests können mit einem einzelnen Tastendruck über ein einzelnes Gerätegehäuse durchgeführt werden.
C‑V-Charakterisierung von MOS-Kondensatoren mithilfe des 4200A-SCS Parameteranalysators