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Blog: #FAILURE ANALYSIS

Einträge

Keithley source measure unit with I-V curve tracer functionality alongside the original I-V curve tracer system from 1955.
Kennlinienschreiber vs. IV-Kennlinienschreiber-Software Tuesday, April 27, 2021

Tektronix führte 1955 den branchenweit ersten Kurvenschreiber ein, der charakteristische Kurven für Vakuumröhren anzeigte, gefolgt im Laufe der Jahre von Modellen zum Testen von Transistoren, Dioden und anderen Halbleiterbauelementen. Tektronix-Kurvenschreiber wie 576 (unten) und 370A/370B fanden breite Akzeptanz in der Industrie, bis die Produktion schließlich Mitte der 80er Jahre eingestellt wurde. Die Kennlinienschreiber sind wie ein Netzteil und ein Oszilloskop in einem Gehäuse vereint und können die Spannung und den Strom aufzeichnen.

Speeding up Failure Analysis using Lock-in Thermography Thursday, February 4, 2021
Semiconductor companies and semiconductor researchers are constantly looking for ways to make devices fail in the lab in order to prevent failures in the field. Countless hours are spent by failure analysis (FA) engineers trying to understand why a device failed and how it can be prevented in the future. This is vital as many devices are used in mission critical applications where “failure is not …