Bitmuster-Generatoren PatternPro® PPG1000, PPG3000 und PPG4000

Erzeugung von störungsbelasteten Bitmustern auf bis zu vier Kanälen für Hochgeschwindigkeits-Daten- und Telekommunikationsprüfungen

Die Tektronix PPG-Serie von Hochleistungs-Bitmuster-Generatoren bietet Mehrkanalkonfigurationen mit Datenraten bis 40 Gb/s. Dank optionaler Jitter-Einspeisung sind PPG-Geräte eine flexible, kostengünstige und bedienfreundliche Messlösung, die Hochgeschwindigkeitsanwendungen wie 100-Gigabit-Ethernet, DP-QPSK-Messungen, Mehrpegelsignale (PAM) und eine breite Palette von Empfängerprüfanwendungen unterstützt. In Kombination mit dem Fehlerdetektor der Tektronix PatternPro® PED-Serie lässt sich ein komplettes 40-Gbit/s-BERT-System aufsetzen.

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 1 Kanal

12,5 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 1 Kanal

16 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 2 Kanäle

16 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 1 Kanal

30 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 1 Kanal

32 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 1 Kanal

40 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 2 Kanäle

30 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 4 Kanäle

16 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 2 Kanäle

32 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 4 Kanäle

30 Gbit/s

Beschreibung
Max. Datenrate

Programmierbarer Bitmuster-Generator, 4 Kanäle

32 Gbit/s

Merkmale

Vorteile

Bitmuster-Erzeugung auf bis zu vier musterunabhängigen Kanälen Unterstützung für Multi-Lane-Standards wie 100 GbE. Erzeugung von Opfer-/Aggressor-Mustern für Übersprechmessungen. Im Vergleich zu Lösungen für die Erzeugung serieller Bitmuster lässt sich mit dem Prüfen von Mehrpegelsignalen und dem parallelen Prüfen Zeit sparen.
Konfigurationen zur Bitmuster-Erzeugung mit Datenraten von 30, 32 und 40 Gbit/s Die Geräte bieten die erforderliche Geschwindigkeit, um schnell wachsende Märkte wie 100GbE, CEI, 32GFC und DP-QPSK zu bedienen.
Integrierte Einspeisung von sinusförmigem Jitter, zufälligem Jitter, BUJ-Jitter und PJ-Jitter Dank eines Komplettsets an Jitter-Quellen decken die Geräte eine Vielzahl von Prüfanforderungen für Empfänger ab.

 

TitleType
Physical Layer Tests of 100 Gb/s Communications Systems

Learn how to prepare for compliance measurements on 100G standards.

Application Note
Clock Recovery Primer, Part 1

Look at clock recovery from a practical point of view, Part 1.

Einführungshandbuch
Clock Recovery Primer, Part 2

Look at clock recovery from a practical point of view, Part 2.

Einführungshandbuch
Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements

Self-verified jitter measurements using a BER-based Jitter Peak measurement.

Einführungshandbuch
TitleType
Auswahl und Download der Tektronix-Produktkataloge 2017

Blättern Sie durch den neuen Tektronix und Keithley Produktkatalog und entdecken Sie unser komplettes Sortiment an Test- und Messlösungen. Hier finden Sie auf über 130 Seiten wichtige Produktdetails und Spezifikationen, Anwendungsinformationen, Auswahlleitfaden und mehr zu unserer kompletten Produktlinie.

Auswahlhilfe
Get an overview of the optical solutions available from Tektronix. Learn about what we showcased at our OFC 2016 exhibit, then learn more about these solutions online.
0h 1m 15s
Watch Tektronix experts as they provide a brief overview of test technologies being demonstrated on 100G components, transceivers and systems for the Datacom and Long Haul Networking Design Segments.
0h 2m 15s
See how to conduct PAM-4 Analysis using PPG3204 Pattern Generator and DSA8300 Sampling Oscilloscope on multi-level eye diagrams.
0h 2m 5s
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