Materialwissenschaft

Die Konsumenten von heute verlangen immer kleinere, leichtere, günstigere und leistungsfähigere elektronische Geräte als je zuvor - und das bei immer längeren Betriebszeiten. Um diese widersprüchlichen Anforderungen zu erfüllen, müssen Forscher neue Materialien entwickeln, bestehende Geräte verkleinern und die Geräteeffizienz steigern. Durch die Bemühungen, Geräte zu verdichten und deren Leistung bei gleichzeitig verringertem Energieverbrauch zu steigern, ist die Forschung sowohl auf Graphene und andere zweidimensionale (2D) Feststoffe gestoßen, die eine höhere Ladungsträgermobilität aufweisen als auch auf organische Halbleiter und Geräte im Nanobereich.

Hocheffiziente Batterien, die auf neuen Elektrolyt- und Elektrodenmaterialien basieren, werden entscheidend dabei sein, die Betriebszeiten zu verlängern. Die fortgeschrittene Brennstoffzellentechnik, die darauf ausgelegt ist, die nächste Generation elektrischer Fahrzeuge effizienter und kostengünstiger zu machen, wird ebenfalls untersucht. Der Wunsch nach grünerer Energiegewinnung spornt die Erforschung von Hochtemperatursupraleitern sowie von Leistungshalbleitern an, welche für die Energieumwandlung unerlässlich sind. Materialien wie Galliumarsenid (GaAs) und Siliziumkarbid (SiC) werden bei zukünftigen Energieübtragungstechnologien eine zentrale Rolle spielen. Die Materialforschung ist auch für die Steigerung der Wandlungseffizienz und der Leistung von Solarzellen von enormer Bedeutung. Die Erhöhung der Effizienz von Laserdioden zur Steigerung der Datenübertragungskapazität erfordert die Erforschung von neuen Materialien und Strukturen.

Hochsensible Messungen spielen bei der Materialcharakterisierung eine zentrale Rolle, von der Messung von Ableitströmen auf Femtoampere-Niveau bis hin zu Widerstandsmessungen im Mikroohm-Bereich zur Bewertung des Widerstands von Ladungsträgermobilitätsmaterialien. Am anderen Ende des Spektrums verlangt die Charakterisierung der neuesten Isolatoren oft nach Messungen im Teraohm-Bereich. Superleiter- oder Nanomaterialforschung, die bei Temperaturen um 0⁰K stattfindet, erfordert, dass das Energieniveau zur Vermeidung von Selbsterhitzung verringert wird, da dies die Reaktion des Geräts oder des Materials beeinflussen oder es beschädigen kann. Dadurch wird ein Bezug von sehr niedrigem Gleichstrom oder Stromimpulsen notwendig.

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Performing Cyclic Voltammetry Measurements Using 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab Systems

This application note outlines using either a 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab System to perform cyclic voltammetry using the built-in test script and electrochemistry translation cable accessory kit.

Leakage Current and Insulation Resistance Measurements
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS
Resistivity Measurements Using the Model 2450 SourceMeter SMU Instrument and a Four-Point Collinear Probe
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A

The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall…

31:10

此网络研讨会涵盖使用霍尔效应和范德堡测量法的半导体和其他材料检定以计算其他参数中的样品电阻率和迁移率,以及如何为这些非常专业的测量选择合适的设备…

31:10
Titel
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

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