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3D-Sensorik Antriebsbedarf für elektrische Tests von VCSELs, Laserdioden und Photodioden

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Die 3D-Erfassung verbessert die Objekt- und Gesichtserkennungsleistung von Kameras.

Die 3D-Erfassung ist ein Verfahren zur Tiefenerfassung, das die Leistungsfähigkeit von Kameras bei der Gesichts- und Objekterkennung erhöht, die beispielsweise für Anwendungen im Bereich der erweiterten Realität (Augmented Reality), Spiele, Fahrerassistenzsysteme und zahlreiche andere Anwendungen eingesetzt wird.

  • Eine Möglichkeit zur 3D-Erfassung ist die Verwendung von Streifenlicht. Kohärentes Infrarotlicht wird mit einem strukturierten Muster auf ein Objekt gestrahlt. Das reflektierte Licht wird dann dekodiert, um ein 3D-Bild des Objekts zu erstellen.
  • Ein weiteres Verfahren für die 3D-Erfassung ist das TOF-Verfahren (Time-of-Flight-Verfahren). Eine Lichtquelle strahlt Infrarotlichtsignale aus. Die Nähe des angestrahlten Objekts wird dann auf Basis der Phasenverschiebung des vom Objekt reflektierten Strahls ermittelt.

Erhalten Sie 2 ausführliche Anwendungshinweise:

  • Laserdiodenfeld-Tests für 3D-Sensorik
  • Verbesserung der Triggersynchronisierung für umfangreiche Produktionstests von VCSEL

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Optische Geräte mit Dioden ermöglichen 3D-Erfassung.

Geräte mit Dioden, wie Laserdioden, HB-LEDs (High Brightness LEDs) und Photodioden (PD), sind die wichtigsten optischen Geräte für die 3D-Erfassung.

  • Laserdioden können einen stark gebündelten und kohärenten Lichtstrahl senden. Zwei übliche Arten von Laserdioden sind Kantenemitter (EEL, Edge Emitter Laser) und Oberflächenemitter (VCSEL, Vertical Cavity Surface Emitting Laser). VCSEL kombinieren die Vorteile der kostengünstigen Herstellung, optischen Leistungsfähigkeit, Temperaturstabilität und großer 2D-Arrays für zusätzliche Leistung. EEL arbeiten mit einer höheren Frequenz, die in für die optische Kommunikation üblichen Glasfasermedien verlustfrei hunderte von Meilen übertragen werden können.
  • HBLEDs oder LEDs streuen inkohärentes Licht in einem breiten Muster. Sie sind die effizientes Quelle für hochwertiges weißes Licht und eigenen sich daher hervorragend für die Beleuchtung. Aufgrund der abfallenden Effizienz (Efficiency Droop), der begrenzten Modulationsleistung und begrenzten Auflösung eignen sie sich nur für wenige Anwendungsbereiche.
  • PDs erfassen Licht und verwandeln es in Strom. Zum ordnungsgemäßen Charakterisieren der Lichtintensität der gesamten Breite der Lichtquelle sind sehr empfindliche Geräte für niedrige PD-Strommessungen erforderlich.

Erlernen Sie 10 Test für Laserdioden, die am Herzen der 3D-Sensorik liegen.

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Geräte von Keithley für elektrische Tests an diodenbasierten Geräten.

Die Wellenlängenstabilität dieser Geräte im gesamten Betriebstemperaturbereich ist ein wichtiger Faktor zum Erhalt der Genauigkeit und zum Reduzieren des Rauschens in den empfangenen Signalen. Die Messung der elektrischen Effizienz durch Präzisionstrigger und die Synchronisierung der Impulsbreiten und Tastverhältnisse ermöglichen eine weitere Optimierung der erforderlichen Beleuchtungsintensität und -auflösung. Dies wirkt sich direkt auf die Wärmeableitung, den Stromverbrauch und die Akkubetriebsdauer des Endsystems aus.

Mit SMU-Geräten (Source Measure Unit) von Keithley werden elektrische Tests durchgeführt, wie Messungen von Lichtintensität, Durchlassspannung, Laserschwellenstrom, Quantenwirkungsgrad, Dunkelstrom, Knickstellen (Knicktest), Kanteneffizienz, Thermistorwiderstand, Temperatur, Kapazität und L-I-V-Impulstests.

WAS IST EIN SMU-GERÄT?

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Library

Title
The Next Big LED Testing Challenge: High Power LED Modules
Photodetectors - Choose and Use Wisely for Best Results in Pulsed Laser Diode Test Systems
Instrumenting DWDM Laser Diode Production Tests
Dense Wavelength-Division Multiplexing (DWDM) fiber optic communications is the current, if not the ultimate, solution to our voracious bandwidth appetite in the Internet Age.
Laser Diode Array Test for 3D Sensing
This application note describes how to integrate bench instruments effortlessly into a holistic system and achieve industry’s best trigger synchronization and maximum throughput for any automated or …
Application Overview: Simplified I/V Characterization of LEDs
Testing High Brightness LEDs Accurately Using the Model 2460 High Current SourceMeter SMU Instrument
Avoiding Inrush Current when Testing High Power LEDs with Series 2260B Power Supplies
#2273 VCSEL Testing with the Model 2400 SourceMeter Instrument
Application Note Number 2273 VCSEL Testing with the Model 2400 SourceMeter Instrument The recent commercialization of vertical-cavity surface-emitting lasers (VCSELs, pronounced "vixsels") into areas …
Pulse Testing High Brightness LEDs Accurately using the 2461 High Current SourceMeter® SMU Instrument
This application note provides information on typical HBLED tests and how to perform them using the pulse functionality of the 2461. Directions on how to set up the tests from the front panel are …
Testing High Brightness LEDs under Pulse Width Modulation Using the Model 2651A High Power SourceMeter Instrument
Enhancing Trigger Synchronization for High Volume Production Testing of VCSELs
This application note uncovers several effective test methodologies for achieving a highly synchronized trigger system on a Keithley Series 2600B SMU instrument.