Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

KOSTENLOS auf Ihrem PC testen .

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DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA bis 1 A
0,2 µV bis 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz – 10 MHz
± 30 V DC Bias

Gepulster I-U
-Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

 

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

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Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS vereinfacht Charakterisierung und Testeinrichtung um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Integrierte Messvideos auf Englisch, Chinesisch, Japanisch und Koreanisch
  • Einfacher Testeinstieg mit hunderten von Anwendungstests, die vom Benutzer angepasst werden können
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, arithmetische Funktionen

Messen. Umschalten. Wiederholen

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Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Charakterisieren. Anpassen. Maximieren.

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Einfach ausgedrückt, ist der 4200A-SCS vollständig anpassbar und vollständig aufrüstbar, sodass Sie die elektrische Charakterisierung und Evaluierung von Halbleiterbauteilen, neuen Materialien, aktiven/passiven Bauteilen, Wafer-Level-Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Elektrochemie oder praktisch aller Abtastungstypen ausführen können.

Highlights

  • NBTI/PBTI-Prüfung
  • Burst-Rauschen
  • Bauteile mit nichtflüchtigem Speicher
  • Potentiostat-Anwendungstest

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

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Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

Verringern Sie Kosten und schützen Sie Ihre Investitionen

Keithley-Servicepläne bieten schnellen, qualitativ hochwertigen Service zu einen Bruchteil der Kosten, verglichen mit einer Reparatur ohne Serviceplan. Ein Mausklick oder ein Anruf genügt, um die Abdeckung von Reparaturkosten zu erhalten – kein Zeitverlust durch die Erstellung von Angeboten, Bestellungen oder Auftragsbestätigungen.

Weitere Informationen

Datasheet Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK1
Hohe Auflösung bei I-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung
zur Charakterisierung von Bauteilen mit zwei und drei Anschlüssen sowie zur MOSFET- und CMOS-Charakterisierung Paket 4200A-SCS-PK1 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK2
, hohe Auflösung bei I-U und C-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Bauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK2 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK3
Hohe Auflösung und Leistung bei I-U & C-U
210 V/1 A, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Leistungsbauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK3 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket 4200-BTI-A enthält:
  • (1) Ultraschnelles I-U-Modul 4225-PMU
  • (2) Remote-Vorverstärker-/Schaltmodule 4225-RPM
  • Software ACS (Automated Characterization Suite)
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot anfordern

Zuverlässigkeit der Halbleiter

Komplexe Zuverlässigkeitstests durchführen, während die 4200A-SCS die komplexe Codierung übernimmt. Mit enthaltenen Projekten wie Heißträger-Einspritzungszersetzung sind Sie im Hinblick auf die Geräteanalyse gut aufgestellt.

Highlights

  • Kombinieren Sie DC I-V-, C-V- und Impulsmessungen in einer Testreihe
  • Inklusive Unterstützung vieler Sondenstationen und externer Instrumente
  • Einfach zu bedienendes Zyklussystem für wiederhote Messungen ohne Programmierung

C-V-Messung für Anwendungen mit hoher Impedanz

Verwenden Sie die benutzerdefinierte Längstwellen-C-V-Methode von Keithley, um die Kapazität Ihrer Abtastung mit hohem Widerstand zu analysieren. Die Methode wird nur mit SMU-Geräten angewendet, kann jedoch mit einem 4210-CVU kombiniert werden, um Messungen höherer Frequenzen vorzunehmen.

Highlights

  • 0,01-10 Hz Frequenzbereich bei einer Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
  • 3,5-Stellen-Digitalauflösung, Mindestregelwert von 10 fF

Nichtflüchtiger Speicher

Prüfen Sie Ihre neuen Technologien mit der gründlichen I-V-Pulscharakterisierung. Die 4200A-SCS umfasst die Unterstützung und Bereitschaftstests für die neuesten NVRAM-Technologien von Floating-Gate-Flash bis ReRAM und FeRAM. Dualquellen- und Messfunktionen in Bereich Strom und Spannung ermöglichen die Charakterisierung von Transienten- und I-V-Domänen.

VCSEL Testing (VCSEL-Tests)

Mehrere, gleichzeitig bestehende SMU-Geräte in der 4200A-SCS vereinfachen die Laserdioden-Prüfungen. Generieren von LIV-Kurven (Light intensity-Current-Voltage; Lichtstärke-Strom-Spannung) mit Verbindungen zu nur einem Gehäuse. Erweiterte Sondenstation und Schalterunterstützung bedeutet, Sie können das gleiche Gerät für Waferproduktionsprüfung von einzelnen Dioden oder kompletten Arrays verwenden. SMUs können für bis zu 21 W für verschiedene unmodellierte VCSEL-Wellenanwendungen.

Charakterisierung von Geräten auf Nanoebene

Die Funktionen der integrierten Geräte des 4200A-SCS vereinfachen die Messanforderungen bei der Entwicklung von Elektronik auf Nanoebene, wie z  B. Kohlenstoff-Nanoröhrchen. Beginnen Sie mit Ihren Untersuchungen mit dem vorkonfigurierten Testprojekt und erweitern Sie Ihre Arbeiten von dort aus. Ein Impuls-Quellenmodus für SMUs hilft dabei, Überhitzungsprobleme zu verringern und kann in wenigen Sekunden mit einem Niederspannungs-C-V und ultraschnellen Impuls-Gleichstrommessungen kombiniert werden.

Widerstandsfähigkeit der Materialien

Verwenden Sie eine 4200A-SCS mit integrierten SMUs, um die Widerstandsfähigkeit mit einer kollinearen Vierpunkt-Messung oder der van-der-Pauw-Methode zu messen. Die enthaltenen Tests führen automatisch wiederholte van-der-Pauw-Berechnungen durch, sodass Sie wertvolle Forschungszeit sparen. Dank der maximalen Stromauflösung von 10 aA und einer Eingangsimpedanz von über 10­­­­16 Ohm erhalten Sie genauere und präzisere Ergebnisse.

MOSFET-Charakterisierung

Die 4200A-SCS kann alle zur vollständigen Charakterisierung von MOS-Geräten erforderlichen Geräte für Komponenten- oder Waferprüfungen umfassen. Enthaltene Prüfungen und Projekte lösen die Oxiddicke von MOSCap, Schwellenspannungen, Dotierstoffkonzentration, mobile Ionenkonzentration und vieles mehr. All dieses Tests können mit einem einzelnen Tastendruck über ein einzelnes Gerätegehäuse durchgeführt werden.

Datenblatt Modul Beschreibung Konfiguration und Angebot
4200-BTI-A ULTRASCHNELLES BTI-PKT Konfiguration und Angebot
4200-PA REMOTE-VORVERSTÄRKER-MODUL Konfiguration und Angebot
4200-SMU MITTELLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4200A-CVIV I-U/C-U-MEHRFACHSCHALTMODUL Konfiguration und Angebot
4210-CVU KAPAZITÄT-SPANNUNGSEINHEIT Konfiguration und Angebot
4210-SMU HOCHLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4220-PGU HOCHSPANNUNGSIMPULSGENERATOR Konfiguration und Angebot
4225-PMU ULTRASCHNELLES IMPULSMESSGERÄT Konfiguration und Angebot
4225-RPM REMOTE-VORVERSTÄRKER-/SCHALTERMODUL Konfiguration und Angebot
4200-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE MPSMU Konfiguration und Angebot
4210-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE HPSMU Konfiguration und Angebot
TitelArtDatum
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Literature number: 1KW-60826-0
Anwendungshinweis 02 Aug 2016
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.
Part number: 071348701
17 Jul 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.5
Application 15 Jun 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.5 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132606
15 Jun 2018
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual User‚s manual for the 4200A CV-IV multi-switch.
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.
Part number: 4200A-CVIV-900-01C
Primary User 15 Jun 2018
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction…The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius,…
Part number: 4200A-901-01E
Primary User 15 Jun 2018
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Literature number: 1KZ-61313-0
Application Note 11 Jun 2018
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literature number: 1KW-60780-4
Datenblatt 10 Jun 2018
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Literature number: 1KW-61388-0
Application Note 10 May 2018
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Literature number: 1KW-60158-1
Application Note 25 Apr 2018
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Literature number: 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
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