Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz - 10 MHz
± 30V DC Bias

Gepulster I-U
-Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/s, 5 ns Abtastrate

 

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

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Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS vereinfacht Charakterisierung und Testeinrichtung um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Integrierte Messvideos auf Englisch, Chinesisch, Japanisch und Koreanisch
  • Einfacher Testeinstieg mit hunderten von Anwendungstests, die vom Benutzer angepasst werden können
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, arithmetische Funktionen

Messen. Umschalten. Wiederholen

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Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Charakterisieren. Anpassen. Maximieren.

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Einfach ausgedrückt, ist der 4200A-SCS vollständig anpassbar und vollständig aufrüstbar, sodass Sie die elektrische Charakterisierung und Evaluierung von Halbleiterbauteilen, neuen Materialien, aktiven/passiven Bauteilen, Wafer-Level-Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Elektrochemie oder praktisch aller Abtastungstypen ausführen können.

Highlights

  • NBTI/PBTI-Prüfung
  • Burst-Rauschen
  • Bauteile mit nichtflüchtigem Speicher
  • Potentiostat-Anwendungstest

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

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Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, MicroManipulator, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

 

Modelle

Model Bereich Strom-Spannung (I-U) Bereich Kapazität-Spannung (C-U) I-U-Bereich, Impulse List Price
4200A-SCS 10 aA - 1A
0,2 µV – 210 V
1 kHz – 10 MHz ±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Konfiguration und Angebot
Model4200A-SCS
Bereich Strom-Spannung (I-U)Bereich Kapazität-Spannung (C-U)I-U-Bereich, Impulse
10 aA - 1A<br/> 0,2 µV – 210 V1 kHz – 10 MHz±40 V (80 V p-p), ±800 mA<br/> 200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Model Bereich Strom-Spannung (I-U) Bereich Kapazität-Spannung (C-U) I-U-Bereich, Impulse List Price
4200A-SCS 10 aA - 1A
0,2 µV – 210 V
1 kHz – 10 MHz ±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Konfiguration und Angebot
Model4200A-SCS
Bereich Strom-Spannung (I-U)Bereich Kapazität-Spannung (C-U)I-U-Bereich, Impulse
10 aA - 1A<br/> 0,2 µV – 210 V1 kHz – 10 MHz±40 V (80 V p-p), ±800 mA<br/> 200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

Semiconductor Reliability

Perform complex reliability tests while letting the 4200A-SCS take care of the complex coding. Included projects like Hot Carrier Injection Degradation (HCI) give you a jump start on device analysis.

Highlights

  • Combine DC I-V, C-V, and pulse measurements in one set of tests
  • Included support for many probe stations and external instruments
  • Easy to use cycling system allows repeat measurements without coding

C-V Measurement for High Impedance Applications

Use Keithley’s custom Very Low Frequency C-V Technique to analyze the capacitance of your high resistance sample. This technique is performed using only source measure unit (SMU) instruments but can be combined with a 4210-CVU to perform higher frequency measurements as well.

Highlights

  • .01 to 10 Hz frequency range with sensitivity of 1 pF to 10 nF
  • 3½-digit typical resolution, minimum typical of 10 fF

Non-volatile Memory

Put your new technologies to the test with thorough pulsed I-V characterization. The 4200A-SCS comes with support and ready-to-run tests for the latest in NVRAM technologies from floating gate flash to ReRAM and FeRAM. Dual sourcing and measuring capabilities in current and voltage allow both transient and I-V domain characterization.

VCSEL Testing

Multiple, concurrent source measure unit (SMU) instruments in the 4200A-SCS simplify your laser diode testing. Generate LIV (Light intensity-Current-Voltage) curves with connections to only a single box. Advanced probe station and switch support means you can use the same instrument for on-wafer production testing of individual diodes or entire arrays. SMUs can be configured for up to 21 W capabilities for a variety of continuous wave (CW) VCSEL applications.

Nanoscale Device Characterization

The integrated instrument capabilities of the 4200A-SCS simplify the measurement requirements in developing nanoscale electronics such as carbon nanotubes. Start your investigations from a preconfigured test project and expand your work from there. A pulsed source mode for SMUs helps reduce overheating problems can be combined with low voltage C-V and ultra-fast pulsed DC measurements in seconds.

Resistivity of Materials

Use a 4200A-SCS with integrated SMUs to easily measure resistivity using a four-point collinear probe or van der Pauw method. Included tests perform repetitive van der Pauw calculations automatically, saving you valuable research time. A maximum current resolution of 10aA and input impedance of >10­­­­16 ohms give you more accurate and precise results.

MOSFET Characterization

The 4200A-SCS can hold all the instruments necessary for full characterization of MOS devices through component or on-wafer testing. Included tests and projects solve for oxide thickness of a MOSCap, threshold voltages, doping concentration, mobile ion concentration, and more. All these tests can be run at the touch of a button from a single instrument box.

Datenblatt Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK1
Hohe Auflösung bei I-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung
zur Charakterisierung von Bauteilen mit zwei und drei Anschlüssen sowie zur MOSFET- und CMOS-Charakterisierung Paket 4200A-SCS-PK1 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK2
, hohe Auflösung bei I-U und C-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Bauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK2 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK3
Hohe Auflösung und Leistung bei I-U & C-U
210 V/1 A, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Leistungsbauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK3 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket 4200-BTI-A enthält:
  • (1) Ultraschnelles I-U-Modul 4225-PMU
  • (2) Remote-Vorverstärker-/Schaltmodule 4225-RPM
  • Software ACS (Automated Characterization Suite)
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot anfordern

 

Data SheetModuleDescription
4200-BTI-A ULTRA FAST BTI PKG FOR MODEL 4200-SCS
4200-PA REMOTE PREAMP OPT 4200-SMU AND 4210-SMU
4200-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4200A-CVIV MEHRFACHSCHALTER
4210-CVU 4210 CAPACITANCE VOLTAGE UNIT 1KHZ-10MHZ
4210-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4220-PGU ZWEIKANAL-IMPULSGENERATOR
4225-PMU ULTRA-FAST I-V MODULE FOR THE 4200-SCS
4225-RPM REMOTE AMPLIFIER/SWITCH FOR THE MODEL 4225-PMU
TitelArtDatum
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.

Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions


Part number: 071348701
19 Oct 2017
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Part number: 4200A-PK2-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK3 provides unpacking and basic connection information. It also provides step-by-step examples to allow you to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Part number: 4200A-PK3-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Part number: 4200A-903-01A
Primary User 28 Aug 2017
Model 4200-Compiler Installation Instructions
Installation instructions for the Model 4200-Compiler, a compiler that you can use to create user modules for the 4200A-SCS Parameter Analyzer and the 4200-SCS.
Part number: PA-1030E
Combined User/Service 28 Aug 2017
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
List of documentation warnings for the Canadian market that are in both English and French.
Part number: 077126000
User 28 Aug 2017
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Part number: 077134300
Declassification 28 Aug 2017
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200A-SCS Parameter Analyzer's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Part number: 077126200
Declassification 28 Aug 2017
4200A-SCS Parameter Analyzer Release Notes
The 4200A-SCS Clarius+ software application suite is the initial release of the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 7 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer
Part number: 077132601
Release Notes 28 Aug 2017
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup.
Part number: PA-1001D
User 28 Aug 2017
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