Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz - 10 MHz
± 30V DC Bias

Gepulster I-U
-Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/s, 5 ns Abtastrate

 

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

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Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS vereinfacht Charakterisierung und Testeinrichtung um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Integrierte Messvideos auf Englisch, Chinesisch, Japanisch und Koreanisch
  • Einfacher Testeinstieg mit hunderten von Anwendungstests, die vom Benutzer angepasst werden können
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, arithmetische Funktionen

Messen. Umschalten. Wiederholen

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Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Charakterisieren. Anpassen. Maximieren.

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Einfach ausgedrückt, ist der 4200A-SCS vollständig anpassbar und vollständig aufrüstbar, sodass Sie die elektrische Charakterisierung und Evaluierung von Halbleiterbauteilen, neuen Materialien, aktiven/passiven Bauteilen, Wafer-Level-Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Elektrochemie oder praktisch aller Abtastungstypen ausführen können.

Highlights

  • NBTI/PBTI-Prüfung
  • Burst-Rauschen
  • Bauteile mit nichtflüchtigem Speicher
  • Potentiostat-Anwendungstest

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

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Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, MicroManipulator, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

 

Modelle

Modell Bereich Strom-Spannung (I-U) Bereich Kapazität-Spannung (C-U) I-U-Bereich, Impulse Listenpreis
4200A-SCS 10 aA - 1A
0,2 µV – 210 V
1 kHz – 10 MHz ±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Konfiguration und Angebot
Modell4200A-SCS
Bereich Strom-Spannung (I-U)Bereich Kapazität-Spannung (C-U)I-U-Bereich, Impulse
10 aA - 1A<br/> 0,2 µV – 210 V1 kHz – 10 MHz±40 V (80 V p-p), ±800 mA<br/> 200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Modell Bereich Strom-Spannung (I-U) Bereich Kapazität-Spannung (C-U) I-U-Bereich, Impulse Listenpreis
4200A-SCS 10 aA - 1A
0,2 µV – 210 V
1 kHz – 10 MHz ±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate
Konfiguration und Angebot
Modell4200A-SCS
Bereich Strom-Spannung (I-U)Bereich Kapazität-Spannung (C-U)I-U-Bereich, Impulse
10 aA - 1A<br/> 0,2 µV – 210 V1 kHz – 10 MHz±40 V (80 V p-p), ±800 mA<br/> 200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

Semiconductor Reliability

Perform complex reliability tests while letting the 4200A-SCS take care of the complex coding. Included projects like Hot Carrier Injection Degradation (HCI) give you a jump start on device analysis.

Highlights

  • Combine DC I-V, C-V, and pulse measurements in one set of tests
  • Included support for many probe stations and external instruments
  • Easy to use cycling system allows repeat measurements without coding

C-V Measurement for High Impedance Applications

Use Keithley’s custom Very Low Frequency C-V Technique to analyze the capacitance of your high resistance sample. This technique is performed using only source measure unit (SMU) instruments but can be combined with a 4210-CVU to perform higher frequency measurements as well.

Highlights

  • .01 to 10 Hz frequency range with sensitivity of 1 pF to 10 nF
  • 3½-digit typical resolution, minimum typical of 10 fF

Non-volatile Memory

Put your new technologies to the test with thorough pulsed I-V characterization. The 4200A-SCS comes with support and ready-to-run tests for the latest in NVRAM technologies from floating gate flash to ReRAM and FeRAM. Dual sourcing and measuring capabilities in current and voltage allow both transient and I-V domain characterization.

VCSEL Testing

Multiple, concurrent source measure unit (SMU) instruments in the 4200A-SCS simplify your laser diode testing. Generate LIV (Light intensity-Current-Voltage) curves with connections to only a single box. Advanced probe station and switch support means you can use the same instrument for on-wafer production testing of individual diodes or entire arrays. SMUs can be configured for up to 21 W capabilities for a variety of continuous wave (CW) VCSEL applications.

Nanoscale Device Characterization

The integrated instrument capabilities of the 4200A-SCS simplify the measurement requirements in developing nanoscale electronics such as carbon nanotubes. Start your investigations from a preconfigured test project and expand your work from there. A pulsed source mode for SMUs helps reduce overheating problems can be combined with low voltage C-V and ultra-fast pulsed DC measurements in seconds.

Resistivity of Materials

Use a 4200A-SCS with integrated SMUs to easily measure resistivity using a four-point collinear probe or van der Pauw method. Included tests perform repetitive van der Pauw calculations automatically, saving you valuable research time. A maximum current resolution of 10aA and input impedance of >10­­­­16 ohms give you more accurate and precise results.

MOSFET Characterization

The 4200A-SCS can hold all the instruments necessary for full characterization of MOS devices through component or on-wafer testing. Included tests and projects solve for oxide thickness of a MOSCap, threshold voltages, doping concentration, mobile ion concentration, and more. All these tests can be run at the touch of a button from a single instrument box.

Datenblatt Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK1
Hohe Auflösung bei I-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung
zur Charakterisierung von Bauteilen mit zwei und drei Anschlüssen sowie zur MOSFET- und CMOS-Charakterisierung Paket 4200A-SCS-PK1 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK2
, hohe Auflösung bei I-U und C-U
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Bauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK2 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK3
Hohe Auflösung und Leistung bei I-U & C-U
210 V/1 A, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Leistungsbauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK3 enthält:
  • Parameter-Analysator 4200A-SCS
  • (2) 4200-SMU-Modul
  • (2) 4210-SMU
  • (1) Vorverstärker 4200-PA
  • (1) Kapazitäts-Spannungs-Modul 4210-CVU
  • (1) Testvorrichtung 8101-PIV mit Mustergeräten
Angebot anfordern
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket 4200-BTI-A enthält:
  • (1) Ultraschnelles I-U-Modul 4225-PMU
  • (2) Remote-Vorverstärker-/Schaltmodule 4225-RPM
  • Software ACS (Automated Characterization Suite)
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot anfordern

 

Data SheetModuleBeschreibung
4200-BTI-A ULTRA FAST BTI PKG FOR MODEL 4200-SCS
4200-PA REMOTE PREAMP OPT 4200-SMU AND 4210-SMU
4200-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4200A-CVIV MEHRFACHSCHALTER
4210-CVU 4210 CAPACITANCE VOLTAGE UNIT 1KHZ-10MHZ
4210-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT
4220-PGU ZWEIKANAL-IMPULSGENERATOR
4225-PMU ULTRA-FAST I-V MODULE FOR THE 4200-SCS
4225-RPM REMOTE AMPLIFIER/SWITCH FOR THE MODEL 4225-PMU
TitelArtDatum
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and Techniques
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the…
Literature number: 1KW-60780-1
Brochure 16 Jan 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4

This version of Clarius+ is ONLY supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS, contact Keithley, a Tektronix company, at Tek.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a personal computer, ensure Windows 10 is the…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.4
Application 11 Jan 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.3 Software Release Notes

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 7 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.
Part number: 077132603
09 Jan 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.4 Software Release Notes

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.
Part number: 077132604
08 Jan 2018
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+…
User‚s manual for the 4200A CV-IV multi-switch.
Part number: 4200A-CVIV-900-01B
Primary User 08 Jan 2018
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such…
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.
Part number: 4200A-901-01D
Primary User 08 Jan 2018
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications

This Application Note discusses electrochemistry disciplines in which Keithley instrumentation is used.
Application Note 04 Dec 2017
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs

This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Literature number: 1KW-61313-0
Application Note 30 Nov 2017
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer

This application note describes how to easily make I-V and C-V measurements on the same device without the need to change cables, which could potentially introduce errors or damage devices.
Literature number: 1KW-60635-0
Application Note 28 Nov 2017
Using the 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

This application note explains how to implement and optimize high voltage C-V tests using the Keithley 4200A-SCS, 4210-CVU, and 4200-CVU-PWR C-V Power Package.
Literature number: 1KW-60637-0
Application Note 27 Nov 2017
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