Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Beschleunigen Sie die Forschungs-, Zuverlässigkeits- und Fehleranalysestudien für Halbleiterbauteile, Materialien und Prozessentwicklung mit dem 4200A-SCS. Als leistungsstärkster Parameter-Analysator bietet er synchronisierte Messungen für Strom-Spannung (I-U), Kapazität-Spannung (C-U) und ultraschnell gepulste I-U-Messungen.

KOSTENLOS auf Ihrem PC testen .

4200-promo-options

DC-Strom-Spannung
(I-U)-Bereich

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Kapazität-Spannung
(C-U)-Bereich

1 kHz – 10 MHz
± 30 V DC Bias

Gepulster I-U
Bereich

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/Sek, 5 ns Abtastrate

 

Parameteranalysator Keithley 4200A-SCS

Schnelle und eindeutige parametrische Erkenntnisse

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Nie war es einfacher, Ihre großen Entdeckungen herauszustellen. Der Parameter-Analysator 4200A-SCS vereinfacht Charakterisierung und Testeinrichtung um bis zu 50 % und bietet so eindeutige Mess- und Analysefähigkeiten ohne Kompromisse. Außerdem geben integrierte Messfachkenntnisse - ein Novum in der Branche - Hilfestellung beim Testen, sodass Sie sich ganz auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

Highlights

  • Integrierte Messvideos auf Englisch, Chinesisch, Japanisch und Koreanisch
  • Einfacher Testeinstieg mit hunderten von Anwendungstests, die vom Benutzer angepasst werden können
  • Automatisierte Echtzeit-Parameterextraktion, Datendarstellung, arithmetische Funktionen

Messen. Umschalten. Wiederholen

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Das Mehrfachschaltmodul 4200A-CVIV wechselt automatisch zwischen I-U- und C-U-Messungen, ohne dass Sie neu verkabeln oder die Tastkopfspitzen von den Messpunkten entfernen müssen. Anders als Konkurrenzprodukte zeigt das 4-Kanal-Display des 4200A-CVIV lokale visuelle Einblicke zur schnellen Testeinrichtung und einfachen Fehlerbehebung an, wenn unerwartete Ergebnisse vorliegen.

Highlights

  • C-U-Messungen auf einen beliebigen Geräteanschluss verschieben, ohne neu verkabeln zu müssen
  • Benutzerkonfigurierbar für Schwachstromfunktionen
  • Bezeichnungen der Ausgangskanäle personalisieren
  • Teststatus in Echtzeit anzeigen

Charakterisieren. Anpassen. Maximieren.

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Einfach ausgedrückt, ist der 4200A-SCS vollständig anpassbar und vollständig aufrüstbar, sodass Sie die elektrische Charakterisierung und Evaluierung von Halbleiterbauteilen, neuen Materialien, aktiven/passiven Bauteilen, Wafer-Level-Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Elektrochemie oder praktisch aller Abtastungstypen ausführen können.

Highlights

  • NBTI/PBTI-Prüfung
  • Burst-Rauschen
  • Bauteile mit nichtflüchtigem Speicher
  • Potentiostat-Anwendungstest

Integrierte Lösung mit analytischen Tastköpfen und kältetechnischen Reglern

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Der Parameter-Analysator 4200A-SCS unterstützt zahlreiche manuelle und halbautomatische Wafer-Tastköpfe und kältetechnische Temperaturregler, darunter Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336.

Highlights

  • Testabfolge mit „Zeigen und Klicken“
  • „Manueller“ Tastkopfmodus testet die Tastkopffunktionalität
  • Fake-Tastkopfmodus ermöglicht das Debugging, ohne Befehle zu entfernen

Verringern Sie Kosten und schützen Sie Ihre Investitionen

Keithley-Servicepläne bieten schnellen, qualitativ hochwertigen Service zu einen Bruchteil der Kosten, verglichen mit einer Reparatur ohne Serviceplan. Ein Mausklick oder ein Anruf genügt, um die Abdeckung von Reparaturkosten zu erhalten – kein Zeitverlust durch die Erstellung von Angeboten, Bestellungen oder Auftragsbestätigungen.

Weitere Informationen

Datasheet Modell Beschreibung Verkaufspreis
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK1
Hohe Auflösung IV
210 V/100 mA, 0,1 fA Auflösung
zur Charakterisierung von Bauteilen mit zwei und drei Anschlüssen sowie zur MOSFET- und CMOS-Charakterisierung Paket 4200A-SCS-PK1 enthält:
  • 4200A-SCS parameter analyzer
  • (2) 4200-SMU Module
  • (1) 4200-PA Preamp
  • (1) 8101-PIV Test fixture with sample devices
Angebot über
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK2
, hohe Auflösung bei I-U und C-U
210 V/100 mA, Auflösung von 0,1 fA, 1 kHz bis 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Bauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK2 enthält:
  • 4200A-SCS parameter analyzer
  • (2) 4200-SMU Module
  • (1) 4200-PA Preamp
  • (1) 4210-CVU Capacitance-Voltage Module
  • (1) 8101-PIV Test fixture with sample devices
Angebot über
Datenblatt ansehen 4200A-SCS-PK3
Hohe Auflösung und Leistung IV und CV
210 V/1 A, 0,1 fA Auflösung, 1 kHz - 10 MHz
zur Charakterisierung von CMOS-Leistungsbauteilen mit Dielektrikum mit hohem k-Wert und Strukturen im Submikrometerbereich Paket 4200A-SCS-PK3 enthält:
  • 4200A-SCS parameter analyzer
  • (2) 4200-SMU Module
  • (2) 4210-SMU
  • (1) 4200-PA Preamp
  • (1) 4210-CVU Capacitance-Voltage Module
  • (1) 8101-PIV Test fixture with sample devices
Angebot über
Datenblatt ansehen 4200-BTI-A
Ultraschnelles NBTI/PBTI
Für anspruchsvolle NBTI- und PBTI-Messungen an neuester Silizium-CMOS-Technologie Paket 4200-BTI-A enthält:
  • (1) Ultraschnelles I-U-Modul 4225-PMU
  • (2) Remote-Vorverstärker-/Schaltmodule 4225-RPM
  • Software ACS (Automated Characterization Suite)
  • Ultraschnelles BTI-Testprojektmodul
  • Verkabelung
Angebot über

Zuverlässigkeit der Halbleiter

Komplexe Zuverlässigkeitstests durchführen, während die 4200A-SCS die komplexe Codierung übernimmt. Mit enthaltenen Projekten wie Heißträger-Einspritzungszersetzung sind Sie im Hinblick auf die Geräteanalyse gut aufgestellt.

Highlights

  • Kombinieren Sie DC I-V-, C-V- und Impulsmessungen in einer Testreihe
  • Inklusive Unterstützung vieler Sondenstationen und externer Instrumente
  • Einfach zu bedienendes Zyklussystem für wiederhote Messungen ohne Programmierung

C-V-Messung für Anwendungen mit hoher Impedanz

Verwenden Sie die benutzerdefinierte Längstwellen-C-V-Methode von Keithley, um die Kapazität Ihrer Abtastung mit hohem Widerstand zu analysieren. Die Methode wird nur mit SMU-Geräten angewendet, kann jedoch mit einem 4210-CVU kombiniert werden, um Messungen höherer Frequenzen vorzunehmen.

Highlights

  • 0,01-10 Hz Frequenzbereich bei einer Empfindlichkeit von 1 pF bis 10 nF
  • 3,5-Stellen-Digitalauflösung, Mindestregelwert von 10 fF

Nichtflüchtiger Speicher

Prüfen Sie Ihre neuen Technologien mit der gründlichen I-V-Pulscharakterisierung. Die 4200A-SCS umfasst die Unterstützung und Bereitschaftstests für die neuesten NVRAM-Technologien von Floating-Gate-Flash bis ReRAM und FeRAM. Dualquellen- und Messfunktionen in Bereich Strom und Spannung ermöglichen die Charakterisierung von Transienten- und I-V-Domänen.

VCSEL Testing (VCSEL-Tests)

Mehrere, gleichzeitig bestehende SMU-Geräte in der 4200A-SCS vereinfachen die Laserdioden-Prüfungen. Generieren von LIV-Kurven (Light intensity-Current-Voltage; Lichtstärke-Strom-Spannung) mit Verbindungen zu nur einem Gehäuse. Erweiterte Sondenstation und Schalterunterstützung bedeutet, Sie können das gleiche Gerät für Waferproduktionsprüfung von einzelnen Dioden oder kompletten Arrays verwenden. SMUs können für bis zu 21 W für verschiedene unmodellierte VCSEL-Wellenanwendungen.

Charakterisierung von Geräten auf Nanoebene

Die Funktionen der integrierten Geräte des 4200A-SCS vereinfachen die Messanforderungen bei der Entwicklung von Elektronik auf Nanoebene, wie z  B. Kohlenstoff-Nanoröhrchen. Beginnen Sie mit Ihren Untersuchungen mit dem vorkonfigurierten Testprojekt und erweitern Sie Ihre Arbeiten von dort aus. Ein Impuls-Quellenmodus für SMUs hilft dabei, Überhitzungsprobleme zu verringern und kann in wenigen Sekunden mit einem Niederspannungs-C-V und ultraschnellen Impuls-Gleichstrommessungen kombiniert werden.

Widerstandsfähigkeit der Materialien

Verwenden Sie eine 4200A-SCS mit integrierten SMUs, um die Widerstandsfähigkeit mit einer kollinearen Vierpunkt-Messung oder der van-der-Pauw-Methode zu messen. Die enthaltenen Tests führen automatisch wiederholte van-der-Pauw-Berechnungen durch, sodass Sie wertvolle Forschungszeit sparen. Dank der maximalen Stromauflösung von 10 aA und einer Eingangsimpedanz von über 10­­­­16 Ohm erhalten Sie genauere und präzisere Ergebnisse.

MOSFET-Charakterisierung

Die 4200A-SCS kann alle zur vollständigen Charakterisierung von MOS-Geräten erforderlichen Geräte für Komponenten- oder Waferprüfungen umfassen. Enthaltene Prüfungen und Projekte lösen die Oxiddicke von MOSCap, Schwellenspannungen, Dotierstoffkonzentration, mobile Ionenkonzentration und vieles mehr. All dieses Tests können mit einem einzelnen Tastendruck über ein einzelnes Gerätegehäuse durchgeführt werden.

Datenblatt Modul Beschreibung Konfiguration und Angebot
4200-BTI-A ULTRASCHNELLES BTI-PKT Konfiguration und Angebot
4200-PA REMOTE-VORVERSTÄRKER-MODUL Konfiguration und Angebot
4200-SMU MITTELLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4200A-CVIV I-U/C-U-MEHRFACHSCHALTMODUL Konfiguration und Angebot
4210-CVU KAPAZITÄT-SPANNUNGSEINHEIT Konfiguration und Angebot
4210-SMU HOCHLEISTUNGS-SMU Konfiguration und Angebot
4220-PGU HOCHSPANNUNGSIMPULSGENERATOR Konfiguration und Angebot
4225-PMU ULTRASCHNELLES IMPULSMESSGERÄT Konfiguration und Angebot
4225-RPM REMOTE-VORVERSTÄRKER-/SCHALTERMODUL Konfiguration und Angebot
4200-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE MPSMU Konfiguration und Angebot
4210-SMU-R VOR ORT AUSTAUSCHBARE HPSMU Konfiguration und Angebot
TitelArtDatum
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Literature number: 1KW-61388-0
Application Note 10 May 2018
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Literature number: 1KW-60158-1
Application Note 25 Apr 2018
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Literature number: 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
Switch Time between Pulse IV and CV measurements using the 4225-RPM.
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate switch…
FAQ ID: 469646 16 Apr 2018
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and TechniquesThis e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measurements…
Literature number: 1KW-60780-1
Brochure 12 Apr 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.4.1
Application 28 Feb 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132605
28 Feb 2018
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process…
Literature number: 1KW-60873-1
Fact Sheet 22 Feb 2018
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only…
FAQ ID: 255351 09 Feb 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3

Part number: 4200A-CLARIUS-V1.3
Application 07 Feb 2018
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