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Live-Webinar: Grundlagen von Jitter

In diesem Webinar werden die Grundlagen von Jitter, Jitter-Quellen und Jitter-Analysen erläutert. Sie erhalten detaillierte Erklärungen der Werkzeuge für das Aufgliedern von Jitter in seine grundlegenden Bestandteile und erlangen so ein tieferes Verständnis der Ursachen und Auswirkungen auf das BER-Verhalten eines Designs.

Abschließend erhalten Sie in der Präsentation einige Tipps unseres erfahrenen Anwendungsentwicklungsteams zum Durchführen von akkuraten Jitter-Messungen - gleich beim ersten Versuch.

Location: Webinar

Date: On Demand

29 Nov 2016
Live-Webinar: Serielle Hochgeschwindigkeitsdaten - Messung mit Tastkopf

Im Laufe diese Webinars lernen die Teilnehmer die grundlegende Arbeitsweise eines Tastkopfes für Oszilloskope und den „Tastkopflast“-Effekt kennen. Anschließend werden im Webinar bestimmte Tastkopfdesigns und Aspekte vorgestellt, die Anwendungen für serielle Hochgeschwindigkeitsdaten betreffen. Darüber hinaus erhalten die Teilnehmer Informationen darüber, welcher Tastkopftyp in welcher Situation zu verwenden ist.

Abschließend wird erläutert, wie die s-Parameterdaten in Tastkopfdesigns verwendet werden, um Messbereiche in seriellen Busstandards der dritten und vierten Generation zu maximieren.Location

Location: Webinar

Date: On Demand

 

1 Dec 2016
Foundations of Radar Webinar

This Live Webinar will focus on the challenges related to the adoption of wideband radar and techniques to master them. Attendees will learn how to identify performance criteria for test instrumentation that allow you to create high fidelity simulation environments.

Location

Webinar

Date

On Demand

Click here to access the webinar >

5 Dec 2016
Interference in Wireless Networks Webinar

Join us for the webinar to learn more about interference hunting. Understanding what kinds of interference is out there, what it looks like and how to measure it will help you characterize and ultimately locate sources of interference. 

Location

Webinar

Date

On Demand

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5 Dec 2016
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization
Today's semiconductor devices typically require an array of both current-voltage (I-V) and capacitance-voltage (C-V) tests to perform full parametric characterization of the device.
 
Though it's very common to perform these I-V and C-V tests on the same device, the two test types require different test equipment and cabling, presenting a difficult and time-consuming process that typically requires re-cabling the entire system.
 
This webinar presents a new technique that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll discuss parameter extraction and which tests will give you the most information about your device.
 
Learn how to:
 
Characterize both AC and DC properties of a MOS device
Perform I-V and C-V measurements correctly the first time
Switch between DC and AC measurements quickly and easily:
 
Location: Webinar
 
Date: 15th February 2017 16;00hrs CET
 
We'll close the webinar with a live Q&A session, your opportunity to pose questions directly to our team of experts.
11 Jan 2017
Real Time RF Recording & Analysis Webinar
During this live webinar our expert, Robin Jackman, will discuss the following topics:
 
• Real time RF reording methods
• Computing / Storage performance considerations
• Offline signal analysis
• Real time signal generation
 
Location: Webinar
 
Date: 22nd February 2017 16:00hrs CET
 
We'll close the webinar with a live Q&A session, your opportunity to pose questions directly to our team of experts.
11 Jan 2017
30th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS 2017)

27.-30. März – Minatec-Grenoble

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Diskutieren Sie die neusten Entwicklungen und erfahren Sie mehr über unsere Produkte.

Wir freuen uns auf Ihren Besuch!

Grenoble, Rhône
Frankreich
27 Mar 2017
Photonics in Data Center (OpTecBB)

Workshop, 4. Mai 2017 - Berlin

Komplette Agenda unter: http://optecbb.de/lang/de/aktuelles/events.php#a641

Online Registrierung unter:  http://optecbb.de/lang/de/anmeldung_20170504_izm.php

Zum aktuellen Forschungsthema "Photonics in Data Center" planen wir im Rahmen einer OpTecBB-Veranstaltung einen englisch-sprachigen Workshop. Es erwarten Sie spannende Workshop-Themen und Diskussionen, Networking mit Experten auf dem Gebiet und Vorführungen modernster Lösungen.

Wir freuen uns auf Ihr Kommen!

Berlin, Berlin
Deutschland
4 May 2017
PCIM 2017

Messe 16.-18. Mai 2017 – Messezentrum Nürnberg

Tektronix Stand: Halle 7 Stand 355

https://www.mesago.de/de/PCIM/Fuer_Besucher/Willkommen/index.htm

Entdecken Sie die neuesten Technologien und erfahren Sie mehr über unsere Produkte.

Wir freuen uns auf Ihren Besuch!

 

Nürnberg, 16 May 2017
IBC 2017

Messe 15.-19. Sept 2017 – RAI Amsterdam

Tektronix Stand:  10 D41

http://www.ibc.org/visit-ibc-explore-learn-and-network/ibc-exhibition

Entdecken Sie die neuesten Technologien und erfahren Sie mehr über unsere Produkte. Besuchen Sie uns am Stand 10 D41. 

Wir freuen uns auf Ihren Besuch!

 

Amsterdam, Netherlands, 15 Sep 2017