Tektronix bietet umfassende Unterstützung für Tx- & Rx-Messungen bei 100G-Standards in Verbindung mit einer Anleitung für Testverfahren sowohl bei NRZ- und PAM4-Signalen, als auch Komplexen Zusammenhängenden Modulations-Formaten. Mit den Testgeräten von Tektronix ist Ihr Team startklar für die nächste Welle der Datensignaltechnologie.

  • Echtzeitoszilloskope der Serie DPO70000SX bieten Ihnen die Möglichkeit, Ihre technischen Fortschritte auf effiziente Weise zu testen und elektrische 100G-Technologiestandards rasch von Fehlern zu befreien und zu validieren. Verschaffen Sie sich Klarheit über die Leistung Ihres 100G-Designs mit im Branchenvergleich niedrigem Rauschuntergrund und hoher Abtastrate.
  • Sampling-Oszilloskope der Serie DSA8300 sind gut geeignet zur präzisen Charakterisierung der optischen Senderleistung für die am weitesten verbreiteten optischen Singlemode-Standards bei Verwendung von branchenführenden integrierten optischen Referenzempfängern mit sehr niedrigem Wert für das optische Signal-Rausch-Verhältnis.
  • Taktrückgewinnungsgeräte der Serie CR286A unterstützen die meisten 100-Gbit/s-Standards und sorgen zusammen mit Tektronix Sampling-Oszilloskopen und BERTs für einen stabilen Takt für eine genaue Timing-Messwertanalyse.
  • Bitfehlerraten-Tester der BERTScope BSA-Serie ermöglichen die Erzeugung von langen Bitmustern von PRBS-Signalen zusammen mit sehr präzisen BER-Messergebnissen und tiefgehender Ursachenanalyse.
  • Für Mehrspurerzeugung (MLG) ermöglichen die Bitmuster-Generatoren der PatternPro PPG-Serie und die Fehlerdetektoren der PED-Serie Testgenerierung und BER von PRBS- und benutzerdefinierten Bitmustern für 100G und 400G NRZ- und PAM4-Anwendungen in Mehrkanal-Testkonfigurationen.

 

Ausgewählte Inhalte